판매용 중고 TERADYNE UltraFlex #9410185

TERADYNE UltraFlex는 반도체 기반 제품의 자동 고속 테스트를 위해 설계된 최첨단 '최종 테스트' 장비입니다. 이 시스템은 테스트 프로세스 지원을 위한 테스트 헤드 (Test Head), 프로브 장치 (Probing Unit) 및 기타 요소로 구성됩니다. TERADYNE ULTRA FLEX 테스트 헤드는 모듈식 컴팩트형 (compact) 테스트 솔루션으로, 고객의 요구에 맞게 효율적으로 조정할 수 있습니다. '고속 테스트 (High-Speed Test)' 를 통해 뛰어난 측정 정확도를 제공하는 반면, 성능은 저하시키지 않고 다양한 온도 범위 내에서 작업합니다. 고급열 관리기 (Advanced Thermal Management Machine) 를 탑재해 온도가 지속적으로 사용하는 동안 한계 내에서 안정적으로 유지되도록 한다. UltraFlex 의 Probing 툴은 테스트 사이트에 대한 빠르고 정확한 Probe를 제공하며, 이를 통해 알 수 없는 디바이스 유형을 테스트할 수 있습니다. 호환 가능한 보드 수준 테스트를 위해 Probe 고정장치 어댑터가 장착되어 있습니다. Probing 솔루션은 신뢰성이 높고 품질을 검사하여 프로세스 기능을 보장하도록 설계되었습니다. ULTRA FLEX 컨트롤러는 강력한 테스트 플랫폼으로, 8 레인 자산, 사용하기 쉬운 소프트웨어 및 내장 진단 기능을 결합합니다. 또한 여러 디바이스를 병렬 테스트하여 처리량을 극대화하고, 심층적인 장애 진단/분석을 지원하고, 다양한 테스트 일정을 액세스할 수 있습니다. 또한 연속 스윕 주파수 응답, 빠른 펄스 응답, 스트림 테스트, 동적 펄스 (dynamic pulse) 등 다양한 시간 영역 기능을 수행하는 코드가 포함되어 있습니다. TERADYNE UltraFlex에는 사용자 친화적 인 소프트웨어 인터페이스, 라이브러리 및 유틸리티, 보안 통신 등과 같은 추가 요소가 포함되어 있습니다. 이 모델은 또한 pick-and-place handler, automated assembly/disassembly solutions 등과 같은 추가 자동화 솔루션을 지원하여 무인 테스트를 가능하게 합니다. 그 결과, TERADYNE ULTRA FLEX는 오늘날 반도체 산업의 지속적으로 성장하는 과제를 충족시키는 강력하고 다재다능한 '최종 테스트' 솔루션을 제공합니다. 이 장비는 CPU, ASIC, FPGA, 비휘발성 메모리 등과 같은 장치 제조업체와 반도체 기반 부품에 의존하는 다수의 소비자 제품에 적합합니다.