판매용 중고 TERADYNE UltraFlex #9128978
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ID: 9128978
빈티지: 2011
Testers,
SC 24 slot frame
(10) HSD1600 Instruments
256 digital channels per instrument (2560 pins)
100 ps accuracy
200 Mbps data rate
Diferential capability
Scan enabled
Digital signal source and capture enabled
512 LVM per pins
8 core DSP enabled
Protocal Aware functionality
Tests nWire and DDR protocols system wide
(1) UVI80 Instrument
(80) CH
AC waveform source and measure capability
Tests D/A and A/D converters embedded in complex SOC or microcontroller devices
(2) UVS256 Instruments
(256) CH per instrument
HEXVS and VSM Ultra High Accuracy and Stability Processor Core Supplies
Performs at lower voltages
(4) HexVS Instruments
(6) CH per instrument
2011 vintage
TERADYNE UltraFlex는 자동 웨이퍼 테스트 응용 프로그램에 사용하도록 설계된 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 테스트 프로세스에서 최대의 유연성과 비용 효율성을 제공하도록 설계되었습니다. 프로빙, 파라 메트릭, 고전압, 혼합 신호 테스트 시나리오 등 다양한 테스트 시나리오에 사용할 수 있습니다. 이 장치의 초고속 작동은 실시간 프로세서가 제어하는 테스터 코어 (Tester Core) 와 업계 최고의 자동화 구성 요소를 결합하여 가능합니다. 이를 통해 TERADYNE ULTRA FLEX 시스템의 경우 처리 속도가 가장 높을 수 있고, 테스트 프로세스 전반에 걸쳐 수율이 가장 높습니다. UltraFlex 아키텍처는 분산 테스터 모델을 기반으로 합니다. 통신 및 제어 버스를 통해 연결된 여러 개의 ULTRA FLEX 테스터 (ULTRA FLEX Testers) 는 여러 프로버에서 동시에 테스트를 실행하는 데 사용됩니다. 하드웨어를 추가로 수정하지 않고도 테스터 코어 (tester core) 를 연결하고 사용할 수 있으므로, 이 툴을 통해 확장성을 극대화할 수 있습니다. TERADYNE UltraFlex 에셋에는 고급 스케줄 지정 및 최적화 도구가 포함되어 있어, 사용자가 최적의 테스트 프로그램을 만들고 유지할 수 있습니다. 사용자는 테스트 매개변수를 손쉽게 조정하고, 테스트를 다시 예약하여 테스트 프로세스의 처리량을 극대화할 수 있습니다. 또한 TERADYNE ULTRA FLEX 모델은 유지 보수 비용이 저렴하고 안정적인 작동을 염두에 두고 설계되었습니다. 이 장비를 통해 사용자는 원격 액세스를 통해 각 PC에서 직접 테스트를 모니터링, 진단, 미세 조정할 수 있습니다. 이 시스템에는 다양한 진단 툴이 내장되어 있어 Probe Contact (프로브 접촉), Thermal (열) 및 Power Supply (전원 공급 장치) 에서 발생하는 문제를 신속하게 파악하고 해결할 수 있습니다. UltraFlex 장치는 최적의 테스트 결과와 높은 처리 성능을 제공하도록 설계되었습니다. 대용량 및 저가형 반도체 테스트 어플리케이션에 이상적인 자동 테스트 머신입니다. 이 툴은 유연하고 경제적인 아키텍처를 갖추고 있으며, 공급업체, 고객, 테스트 엔지니어 모두가 손쉽게 사용할 수 있습니다.
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