판매용 중고 TERADYNE UltraFlex HD #9211335

TERADYNE UltraFlex HD
ID: 9211335
빈티지: 2013
Testers 2013 vintage.
TERADYNE의 TERADYNE UltraFlex HD는 복잡한 SoC (System on Chips) 의 구성 요소를 빠르고 정확하게 테스트하는 데 사용되는 고급 최종 테스트 장비입니다. 이 종합적인 3-in-1 플랫폼은 처리량, 정밀 테스트 및 고밀도 테스트 범위를 제공합니다. 여러 SoC에 대한 초고속 동시 테스트를 위해 최대 16 개의 ATPG (Automatic Test Pattern Generation) 사이트를 제공합니다. 최대 5기가헤르츠 (GHz) 의 인터페이스 속도를 통해 TERADYNE ULTRAFLEX-HD는 버스, ADC (analog-digital) 변환기 및 DAC (digital-analog) 변환기를 포함한 모든 중요한 SoC 기능을 신속하게 검증할 수 있습니다. 이 장치에는 4 개의 독립 채널이 장착되어 있어 단일 설정의 구성 요소를 신속하게 테스트하고 테스트 비용을 절감할 수 있습니다 (영문). 각 채널은 최대 150 와트의 전력을 공급할 수 있으며, 최대 25V 전압으로 칩을 테스트할 수 있습니다. 내장형 ULTRA FLEX HD 기능에는 임베디드 Tester-per-pin 기술이 포함되어 자동화된 테스트 프로그램 개발 및 분석이 가능합니다. 이 기계의 빠르고 정확한 ATPG 기능을 통해 더 많은 범위의 벡터를 더 적게 사용할 수 있습니다. 또한 향상된 장애 적용 범위 및 보다 정확한 측정 계산을 위한 고급 신호 분석 (Advanced Signal Analysis) 도 포함되어 있습니다. ULTRAFLEX-HD의 강력한 열 관리 (thermal management) 툴은 더 빠른 온도 램프 다운 속도를 제공합니다. 즉, 더 높은 전력 손실 및 고밀도 부품을 처리 할 수 있습니다. 최대 300 핀 (pin) 의 다중 병렬 스캔 경로를 통해 복잡한 테스트를 동시에 실행할 수 있습니다. 마지막으로, 통합 다중 전압 스위칭 기능은 여러 전압 레벨에 대해 여러 테스트 시스템이 필요하지 않습니다. TERADYNE ULTRA FLEX HD 의 다양한 구성 요소와 다양한 기능을 통해 모든 고성능 최종 테스트 (final test) 애플리케이션을 완벽하게 선택할 수 있습니다. 고밀도 및 고속 테스트뿐만 아니라 효율적이고 비용 효율적인 테스트 기능으로, 현대의 SoC 설계를 위한 완벽한 솔루션입니다.
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