판매용 중고 TERADYNE UltraFlex HD #9160793

ID: 9160793
빈티지: 2008
SOC Test system Qty Part number Description (1) 810-712-00 UltraFlex HD (12slots) (1) 600-485-00 UltraPin 800 (1) IN-267-00 HSD800-128 DSSC LIC (1) IN-261-02 HSD800-128 200MBS Data rate LIC (1) IN-262-01 HSD800-128 16M Pattern depth (1) 979-331-22 HSD1000 (1) IN-124-80 DSSC (1) IN-316-00 16M Pattern depth (1) IN-141-10 1000 MBPS Speed (1) 979-390-00 DCIO (1) 979-217-30 DC30 (1) 979-495-00 HDVS (24) IN-403-00 HDVS Channels (1) 810-982-00 VHFAC (1) IN-160-15 VHFAC Source High speed (1) IN-161-15 VHFAC Capture High speed (1) 814-641-00 Ultrawave 12G (1) 814-643-00 Ultrawave 12G MW Synthesizer LO (1) 814-644-00 Ultrawave 12G MW Synthesizer DR (1) IN-251-04 Ultrawave 12G. On-board dual AWG (1) IN-251-05 Ultrawave, Low Phase noise DUT ref (1) IN-250-02 Ultrawave 12G, 16 Universal RF ports (1) IN-250-03 Ultrawave 12G, 2nd Receiver (1) IN-250-06 Ultrawave 12G, Noise source (1) IN-250-07 Ultrawave 12G, 1-port VNA (1) 814-602-01 XW8400 System computer ultraflex tester PC (1) 979-223-10 12SLT Dual processor DSP (1) 810-523-00 32 Bit Parallel port interface (1) 979-528-20 Integ Kit. ultraflex MC. STND MANIP. MP4 XP (1) 819-085-00 Ultraflex MC, FF MP4XD manipulator (1) 979-230-00 Testhead docking IF, IPD and OPD, UF24 Test Head Slot Part number Name 2 805-041-00 UltraWave measure board 6 974-390-02 DCIO Board 10 805-044-00 Ultrawave synth ref board 12 805-014-00 VHFAC Board 14 974-242-10 HSD-I Board 16 974-331-44 HSD-M Board 18 974-217-30 DC30 Board 20 974-232-00 HDVS Board 22 805-043-00 Ultrawave synth lo board 24 974-221-03 Support board 24 956-364-00 XGEM Board (On support board) Cabinet 361-942-04 DSP Computer No missing parts 2008 vintage.
TERADYNE UltraFlex (TM) HD는 다양한 전자 제품 및 칩셋의 기능을 테스트, 검증, 분석하도록 설계된 고급 최종 테스트 장비입니다. 포괄적인 소프트웨어 애플리케이션, 유연한 하드웨어 아키텍처, 강력한 테스트 리소스 등을 결합하여 업계 최고의 테스트 시간, 정확한 정확성, 탁월한 진단 성능을 제공합니다. TERADYNE ULTRAFLEX-HD 테스트 시스템은 구성 가능하고 유연한 하드웨어 아키텍처를 기반으로 구축되었습니다. 대용량 및 하이믹스 (high-mix) 전자 제품 테스트 환경의 요구를 모두 충족하도록 설계되었습니다. ULTRA FLEX HD는 여러 개의 I/O 형식, 강력한 온보드 메모리 및 고급 진단 기능을 지원합니다. 이 포괄적인 아키텍처는 변화하는 테스트 요구 사항에 손쉽게 대처할 수 있게 해 주며, 볼륨 및 복잡성 증가를 수용할 수 있도록 빠르게 확장할 수 있게 해 줍니다 (영문). 또한 ULTRAFLEX-HD는 강력하고 사용이 간편한 소프트웨어 어플리케이션을 통해 테스트 계획 및 결과를 신속하게 설정, 모니터링할 수 있습니다. 이러한 소프트웨어 애플리케이션에는 '디바이스 테스트' 결과를 보다 쉽게 모니터링하고 보고할 수 있는 '운영 툴' 이 포함되어 있습니다. 또한 사용자는 맞춤형 테스트 시퀀스를 설계하고, 효율적인 테스트 계획을 수립하고, 디바이스 설정을 구성하고, 진단 보고서를 작성할 수 있습니다. 안정성, 정확성 및 성능 측면에서 TERADYNE ULTRA FLEX HD는 시장에서 가장 안정적이고 강력한 테스트 시스템 중 하나입니다. 초고속 (lightning-fast) 테스트 주기는 가장 짧은 시간 내에 불일치 시점을 파악하고 문제를 진단할 수 있습니다. 이 기계의 고급 진단 기능 (Advanced Diagnostic Features) 을 통해 사용자는 테스트 도구 (Test Tool) 를 사용하지 않고 회로 기판과 칩셋의 문제를 해결하고 복구할 수 있습니다. 마지막으로, 자산의 개방형 아키텍처 설계를 통해 사용자는 자신의 데이터 수집/보고 시스템을 사용자 정의하고 통합할 수 있습니다. UltraFlex HD는 엔지니어와 기술자가 전자 제품 및 부품을 테스트하고 진단하는 방식에 혁신을 가져왔습니다. 강력하고, 직관적이며, 유연한 아키텍처를 통해 가장 엄격한 제품 테스트 작업을 처리할 수 있으며, 고속 성능과 정확한 정확성을 제공합니다. 대용량 제품이나 로우 믹스 (low-mix) 구성요소를 생산하든, TERADYNE UltraFlex HD는 작업을 빠르고 정확하게 수행할 수 있는 유연성과 확장성을 갖추고 있습니다.
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