판매용 중고 TERADYNE TS128 #9194361
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ID: 9194361
빈티지: 2007
ICT Tester
Sys control
(13) Pincards
PIO Card
AFTM Card
ICA Card
DUT Power 7
2007 vintage.
TERADYNE TS128 Final Test Equipment는 고속 저가형 플랫폼에서 고급 반도체 테스트 및 번인 (burn-in) 기능을 제공합니다. 이 고품질 테스터는 전반적인 테스트 처리량을 높이고 테스트 비용을 절감하도록 설계되었습니다. 강력한 아키텍처, 향상된 제어 기능, 강력한 진단 툴을 갖추고 있습니다. 시스템은 논리 및 이산 혼합 신호 장치를 모두 테스트할 수 있습니다. 즉, 심층적인 메모리 아키텍처 (Deep Memory Architecture) 를 통해 여러 디바이스에 대한 테스트 조건을 동시에 저장할 수 있고 높은 처리량을 제공합니다. 또한 고속 주소 생성기 (High-Speed Address Generator) 를 사용하여 최대 10MHz의 속도로 여러 주소와 패턴을 사용하여 테스트 시퀀스를 생성할 수 있습니다. 이 장치는 여러 하드웨어/소프트웨어 플랫폼을 통합하여 포괄적인 테스트 시스템 솔루션을 제공합니다. 테스트 처리량을 최대화하기 위해 TERADYNE TS 128은 강력한 벡터 아키텍처를 사용합니다. 이 아키텍처를 사용하면 테스트 대상 각 디바이스의 특성을 정확하게 캡처하여 보다 정확한 테스트 결과를 얻을 수 있습니다 (영문). 자산은 또한 고급 제어 구조 (advanced control structure) 를 사용하여 장치별로 장치를 보다 효과적으로 제어할 수 있습니다. 이 구조는 테스트 프로세스의 전반적인 정확성과 효율성을 증가시킵니다. 이 모델에는 개방, 단거리 또는 교차 조건 장애를 감지할 수 있는 기능이 내장되어 있습니다. 또한 저주파 테스트 및 교정 기능을 수행 할 수 있습니다. 또한 전체 진단 도구 (Diagnostic Tools) 를 통해 사용자가 신속하게 문제를 파악하고 해결할 수 있습니다. 이 제품군에는 오류 로그북 (Error Logbook) 이 포함되어 있습니다. 이 로그북은 테스트 과정에서 오류를 추적하는 데 사용되며, 도식 뷰어는 문제 해결을 지원합니다. TS128 최종 테스트 장비 (Final Test Equipment) 는 복잡한 혼합 신호 장치의 신속한 테스트 및 레코딩을 위한 효율적이고 비용 효율적인 솔루션을 제공하도록 설계되었습니다. 심층적인 메모리 아키텍처, 고급 제어 기능, 강력한 진단 툴을 통해 정확한 디바이스 정보를 신속하게 수집할 수 있습니다. 이 시스템은 반도체 테스트 요구를 충족하는 안정적이고 경제적인 솔루션을 찾는 기업에 적합합니다 (영문).
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