판매용 중고 TERADYNE MicroFlex #9363434

TERADYNE MicroFlex는 메모리, 마이크로 컨트롤러, 고속 ASIC, 디지털, 아날로그 및 혼합 신호 IC에 이르기까지 다양한 전자 장치를 위해 설계된 최종 테스트 장비입니다. 단일 플랫폼에서 확장 가능한 테스트 범위를 제공하며, 운영/엔지니어링 모두에 적합합니다. MicroFlex 시스템에는 다양한 하드웨어, 소프트웨어, 서비스가 제공되어 테스트 프로세스를 용이하게 합니다. 강력한 운영 단위는 테스트 프로그램의 통합 및 자동화를 단순화하는 그래픽 사용자 인터페이스인 ATV (Advanced Test View) 를 통해 효율적인 테스트 개발 및 관리를 용이하게 합니다. 사용 가능한 테스트 소프트웨어 라이브러리에는 시스템의 하드웨어와 원활하게 작동하도록 설계된 테스트 프로그램 생성기 (test program generator), 진단 도구 (diagnostic tools) 및 시뮬레이션 소프트웨어 (simulation software) 가 포함됩니다. 이 툴은 IC 의 테스트 범위를 위해 다양한 고속 애플리케이션별 테스트 기능을 제공합니다. 패라메트릭 테스트, 장치 ID, 보드 프로그래밍, 자산 테스트 등 다양한 애플리케이션에 사용할 수 있습니다. 이러한 테스트는 고속 디지털 I/O (DIO) 또는 디지털 벡터 프로세서 (DVP) 기술을 사용하여 가능하며, 후자는 최대 4GHz의 속도로 채널 수준 테스트를 수행 할 수 있습니다. 이 모델은 기존 프로세스와 고급 반도체 프로세스를 모두 수용할 수 있는 다양한 전력 (Power) 및 온도 (Temperature) 옵션을 제공합니다. VCLK, IDDQ, VDDQ, LDO 제어 등의 전원 제어 알고리즘도 지원되므로, 디바이스가 작동할 확률을 보장하고 개선할 수 있습니다. TERADYNE MicroFlex 장비는 ATP (Automated Test & Programming) 기능 외에도 IC와 회로 보드에 대한 무중단 테스트를 제공하는 강력한 ICT (in-circuit test) 도구를 갖추고 있습니다. 이러한 도구에는 테스트 실행 중 장치의 영구 손상을 방지하는 내장 마이크로 중단 기술 인 FeedFlex, 테스트용 DFX (Design for testability) 및 빠른 프로토타입을위한 FPGAdb (flash programming and debugging) 도구가 포함됩니다. 견고하고, 유연하며, 통합된 아키텍처를 갖춘 MicroFlex Final Test System은 어떠한 테스트 요구 사항도 충족할 수 있는 이상적인 솔루션으로, 테스트 범위 향상, 출시 시간 단축, 제품 품질 향상 등의 효과를 제공합니다.