판매용 중고 TERADYNE MicroFlex #9217592

테라 딘 (TERADYNE) 마이크로 플렉스 (MicroFlex) 는 복잡한 전자 제품의 제조 및 테스트를 위해 고급의 고속 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 ICT (in-circuit test), 경계 스캔, 트랜지스터 테스트, 디버그 추적 등 다양한 테스트 응용 프로그램을 지원합니다. MicroFlex는 소형 디지털 집적 회로 (IC) 에서 하이 핀 카운트 (high-pin-count) 패키지에 이르는 다양한 장치를 위한 유연한 솔루션으로 뛰어난 전력 성능, 유연성, 신뢰성 및 경제성을 제공합니다. TERADYNE MicroFlex는 테스트 장치 컨트롤러와 핸들러의 두 가지 주요 구성 요소를 사용합니다. 이 컨트롤러에는 강력한 벡터 프로세서, 고급 벡터 프로세서 기반 회로, 트리거 생성/캡처 기능 및 고속 데이터 캡처 시스템이 포함됩니다. 또한 이 컨트롤러에는 테스트 루틴 실행, 디버그 루틴, 기타 기능을 위한 고급 소프트웨어 패키지가 들어 있습니다. 핸들러 (Handler) 에는 테스트 중인 장치의 보안 및 마운트에 필요한 Probe, Probes 카드 및 수동/접촉 인터페이스 (Manual/Contact Interface) 와 테스트 도구 컨트롤러로 데이터를 전송하는 데 필요한 인터페이스가 들어 있습니다. 마이크로플렉스 (MicroFlex) 는 다양한 테스트 옵션을 지원하므로 제조업체가 수율, 품질, 주기 시간을 최대화할 수 있습니다. 또한 고속 테스트 데이터 캡처 및 최대 250MHz (capture rate) 를 제공하여 간헐적인 결함 신호를 쉽게 감지 할 수 있습니다. 또한 다중 축, 다중 레인 (multi-lane) 아키텍처를 통해 여러 신호가 있는 보드 및 컴포넌트를 더 빠르게 테스트할 수 있습니다. TERADYNE MicroFlex는 매우 유연하며 여러 전기 매개 변수와 아날로그/디지털 옵션을 제공합니다. 최대 2,500 개의 테스트 핀을 지원할 수 있으며, 다양한 제품에 대한 다양한 테스트 기능을 제공합니다. 이 자산은 또한 멀티 게이트 통합 ASIC 테스트가 능률화되어 수율, 테스트 시간, 생산 제어를 향상시킬 수 있습니다. MicroFlex에는 Cupholder, BSDL, ATE Interactors, VIA Adapters, FPGA 프로그래밍 등과 같은 다양한 응용 소프트웨어 도구가 장착되어 있어 여러 프로젝트에 대한 사용자 정의 테스트가 가능합니다. 이 모델은 실시간 기능 덕분에 추적 시스템 (Traceability System) 또는 닫힌 루프 (Closed-Loop) 제조 프로세스에 쉽게 통합될 수 있습니다. 정제된 장비 운영 및 고속 처리 속도를 통해, TERADYNE MicroFlex 는 자동/수동 테스트 프로그램 모두에 이상적인 솔루션입니다.