판매용 중고 TERADYNE MicroFlex #9121444

TERADYNE MicroFlex는 장치 최종 테스트의 비용 효율적인 실행을 위해 설계된 고급 마이크로 일렉트로닉 테스트 장비입니다. 이 시스템은 속도, 유연성, 확장성을 갖춘 가장 복잡한 어플리케이션의 요구를 충족할 수 있도록 설계되었습니다. 최대 8 Giga Samples Per Second (GSS) 의 테스트 대 테스터 보드 처리량이 있습니다. 이 장치에는 두 가지 주요 구성 요소 (ATE (Automated Test Equipment) 모듈 및 테스트 헤드) 가 있습니다. ATE 모듈에는 시스템의 전자, 물리적, 디지털 코어가 있으며, 이 코어는 테스트 프로토콜을 실행하고 결과를 생성하는 데 필요한 전원 및 연결을 제공합니다. 테스트 헤드는 ATE 모듈에 마운트되며 2 개의 핵심 구성 요소 (구동 회로와 수신 회로) 를 포함합니다. 구동 회로는 scan in/Out, clock cycles, voltage level control 등 테스트 프로토콜에 대한 드라이브 신호를 생성합니다. 수신 회로 (Receiving Circuit) 는 테스트 중인 디바이스의 오류를 감지하고 응답을 캡처하는 역할을 합니다. 이 도구의 자체 보정 (self-calibration) 기능을 사용하면 디바이스의 성능 프로파일을 보다 빠르게 설정하고 검증할 수 있습니다. 고도로 통합된 구성 요소는 비용 효율적인 (cost-efficient) 테스트를 보장하는 반면, 직접 테스터 (direct tester) 연결은 테스트 헤더가 테스트 중인 장치와 항상 접촉하도록 합니다. 구성 가능한 소프트웨어 제어를 통해 테스트 프로토콜을 광범위하게 사용자 정의하여 사용자 지정 로직 (Custom Logic) 과 아키텍처 (Architecture) 에 신속하게 자동 초점을 맞출 수 있습니다. 다른 테스트 전략을 적용하여 응용프로그램 요구 사항에 따라 보다 정확한 테스트 결과를 제공할 수 있습니다 (영문). MicroFlex는 4 가지 모드로 작동 할 수있는 고급 메모리 자산을 제공합니다. 정교한 실시간 데이터 분석 툴과 결합된 이러한 모드는 '장애' 를 신속하게 파악할 수 있으며, 엔지니어들이 '문제의 근본 원인' 을 신속하게 파악할 수 있도록 지원합니다. 이 모델의 아키텍처는 모듈식 (Modular) 으로 설계되었으며, 사용자가 장비의 속도를 빠르고 쉽게 업그레이드하여 최신 애플리케이션 (Application) 과 기술을 따라잡을 수 있도록 합니다. 또한 광범위한 장애 진단 (fault diagnostics) 을 통해 모든 문제를 신속하게 파악하고 해결할 수 있습니다. 고속, 높은 정확성 및 높은 신뢰성을 위해 설계된 TERADYNE MicroFlex (TERADYNE MicroFlex) 는 효율적이고 비용 효율적인 디바이스 테스트 방법을 찾는 제조업체의 최종 테스트 시스템입니다.