판매용 중고 TERADYNE J971SP #44766

ID: 44766
Testers deinstalled, vacuum packed and crated in warehouse 1996-1997 vintage.
TERADYNE J971SP는 오늘날의 다양한 고급 전자 어플리케이션을 위해 설계된 다기능 고성능 회로/기능 테스트 장비입니다. 기본 구성으로, 시스템은 아날로그 및 디지털 전자 제품에 대한 회로 내 (in-circuit), 기능 및 경계 스캔 검증을 제공 할 수 있습니다. 또한, 가장 까다로운 산업 요구 사항을 충족하도록 적응하고 확장하도록 장치를 구성할 수 있습니다 (영문). J971SP 시스템은 테스트 헤드/Probe 어레이, 프로세스 컨트롤러/마더보드, 테스트 프로그램 개발/디버거 소프트웨어 및 Probe 카드와 같은 여러 구성 요소로 구성됩니다. 이 도구는 단순 스트립 로더에서 통합 기능/회로 내 (in-circuit) 테스터까지 다양한 테스터와 호환됩니다. 이를 통해 자산은 이산 및 가전 테스트 모두를 처리 할 수 있습니다. 테스트 헤드 어레이는 채널 펄스 (pulsed) 전원 공급 장치당 200V로 설계되었으며 정확성을 보장하기 위해 높은 Z 측정 회로를 갖추고 있습니다. 또한 터널링, 논리 및 전압 측정, P0-15 논리 테스트 및 HIF-then-ok 타이머가 특징입니다. 이 모델의 프로세스 컨트롤러/마더보드는 8 비트 및 16 비트 마이크로 프로세서 기반 아키텍처를 위해 설계되었으며 여러 개의 동시 이벤트 제어, 대화식 I/O 및 프로그래밍 가능한 테스트 시간을 제공합니다. 이 소프트웨어 제품군을 사용하면 친숙한 GUI (Graphical User Interface) 를 통해 테스트 프로그램 개발 및 디버그 기능을 사용할 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 테스트 프로그램을 손쉽게 작성, 수정 및 분석할 수 있습니다. 또한 이 소프트웨어에는 제품 테스트 품질을 향상시키고 포괄적인 테스트 결과를 제공하는 측정 데이터 (Measurement Data) 와 라이브데이터 (LiveData) ™ 를 비교하는 기능이 포함되어 있습니다. 마지막으로, 장비의 프로브 카드 (Probe Card) 는 신호 중심 설계로 설계되어 여러 테스트 시나리오에 개방형 인터페이스를 제공합니다. 또한 더 높은 신호 무결성 (signal integrity) 과 속도 (speed) 를 제공하여 완료된 테스트에서 더 빠른 회전 시간을 제공합니다. 요약하면, TERADYNE J971SP는 가장 까다로운 산업 요구 사항을 충족하도록 구성될 수 있는 다목적 고성능 회로/기능 테스트 시스템입니다. 테스트 헤드 어레이, 프로세스 컨트롤러/마더보드, 테스트 프로그램 개발/디버거 소프트웨어 및 Probe 카드는 정확하고 빠른 테스트 결과를 보장하도록 설계되었습니다. J971SP는 사용자에게 제품 품질 보증을 위해 전자 제품을 신속하게 테스트하는 최적의 솔루션을 제공합니다.
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