판매용 중고 TERADYNE J971SP #293634199

TERADYNE J971SP Final Test Equipment는 회로, 기능 및 시스템 테스트를 자동화하는 고속 고성능 솔루션입니다. 이 장치는 자동차, 통신, 소비자 및 전력 전자 시장의 고급 전자 기기를 테스트하기 위해 설계되었습니다. 즉, 시간당 최대 3000 개의 디바이스를 처리할 수 있어 복잡한 시스템 테스트를 1 차선으로 수행할 수 있습니다. 확장성이 뛰어난 아키텍처를 통해, J971SP 는 새로운 테스트 요구 사항에 신속하게 대응할 수 있으며, 필요한 경우 추가 테스트 카드를 사용하여 업그레이드할 수 있습니다. TERADYNE J971SP는 고급 알고리즘 및 벤치탑 기술을 활용하여 테스트 조정 제거, 신뢰성 향상, 허위 오류 감소 등을 제공합니다. 특허를받은 DC IV/AC 분석은 PCB (Printed Circuit Board) 설계에서 개방 및 단락 된 회로 결함을 감지합니다. 전통적인 회로 내 측정 기술에는 여러 개의 전류 센서와 광범위한 ESD 테스트가 포함됩니다. 이 제품은 병렬 (Parallel) 및 직렬 (Serial) 아키텍처를 사용하여 기능적 테스트 판도를 확인하고, 높은 수익률을 달성하며, 테스트 프로세스의 효율성을 크게 향상시키는 크로스 체크 구조를 사용합니다. J971SP 툴은 빠른 선회 (Fast Turn) 프로그래밍 기능을 제공하여 제품 도입을 촉진하고 신속한 피드백 및 분석을 유지합니다. 중앙 스위칭 구성 (Central Switching Configuration) 은 측정 리소스 재구성 및 변경을 위한 높은 유연성을 지원하므로 디바이스 생산의 신뢰성을 보장합니다. 또한 여러 테스트 형식 및 다중 온도 구성으로 최대 4 개의 커플 링을 지원합니다. 에셋의 ISDE (In-Model Dynamic Emulation) 기능은 실제 환경에서 구성 요소의 전기 성능을 시뮬레이션하여 배포 전에 취약점을 식별하기 위해 고속 EMP 측정을 가능하게 합니다. RIR (Rapid Issue Resolution) 도구는 장애 진단 및 문제 해결 프로세스 자동화의 정확한 해결을 위한 결정적인 기준점을 제공합니다. 데이터 저장 (data storage) 및 데이터 처리를 위해, 장비는 엄격한 보호 및 정확성을 제공하는 전원 구성 요소 어레이를 사용합니다. 여기에는 테스트 데이터의 보안 및 테스트 시스템의 운영 기능을 보장하는 중복 CPU, 메모리 (memory) 및 디스크 스토리지 (Disk Storage) 가 포함됩니다. 간단히 말해서, TERADYNE J971SP Final Test Unit은 제조업체가 테스트 프로세스에서 더 높은 안정성과 향상된 수율을 달성하도록 돕는 견고한 고성능 솔루션입니다. 전자 기기의 효율적인 설계, 제조에 필요한 유연성, 고속 정확성을 제공합니다.