판매용 중고 TERADYNE J750 #9379602

TERADYNE J750 Final Test Equipment는 마이크로 프로세서 및 기타 집적 회로를 테스트하기 위해 설계된 고속 고성능 시스템입니다. 고급 하드웨어 및 소프트웨어 기술을 결합하여 통합 마이크로 프로세서 테스트 솔루션을 제공합니다. TERADYNE J 750은 최종 테스트 시스템 중 TERADYNE 제품군에서 가장 강력하고 다양한 기능으로, 처리량 및 테스트 시간이 크게 개선 된 안정적인 고속, 높은 정확도 테스트 결과를 제공합니다. J750 은 강력한 컨트롤러와 독점 소프트웨어를 다양한 보드 옵션, 인터페이스 기능, 측정 기능과 통합했습니다. 컨트롤러는 테스트 프로그램을 실행하고, 데이터를 저장하고, 시스템을 제어하는 플랫폼을 제공합니다. 이를 통해 프로그래머는 테스트 중인 장치의 정확한 사양에 맞춘 테스트 프로그램 (test program) 을 설계할 수 있습니다. 온보드 소프트웨어에는 사용하기 쉬운 도구, 테스트 프로그램 만들기, 기존 프로그램 디버그, J 750 성능 모니터링, 테스트 결과 저장 등이 포함되어 있습니다. 이 소프트웨어는 다양한 언어 및 기타 개발 기술을 지원합니다. TERADYNE J750 은 여러 가지 테스트 애플리케이션, 인터페이스 카드, 측정 시스템, 맞춤형 기능 등 다양한 보드 옵션을 제공합니다. 보드는 절반 페이지 및 1U 높이 형식을 포함하여 다양한 폼 팩터로 제공됩니다. 보드 옵션에는 테스트 프로그램과 병렬로 실행되는 맞춤형 BIST (내장 자체 검사) 기능도 포함되어 있습니다. BIST 기능은 테스트 도중 장애가 발생하는 경우 (예: 짧은 회로, 열린 회로) 을 감지하고 손상되거나 제거된 컴포넌트를 식별할 수 있습니다. TERADYNE J 750은 디지털 및 아날로그를 포함한 광범위한 인터페이스 기능을 제공합니다. 표준 디지털 인터페이스에는 LVDS (저전압 차등 신호) 및 병렬/직렬 인터페이스 (PSI) 가 포함됩니다. 표준 아날로그 인터페이스에는 시그마-델타 및 펄스-너비 변조 (PWM) 가 포함됩니다. 이 도구는 측정을위한 여러 디지털-아날로그 및 아날로그-디지털 변환기를 제공합니다. J750 최종 테스트 자산 (Final Test Asset) 은 신뢰성 높은 고속, 정확도 테스트 결과를 제공하며 처리량 및 테스트 시간이 크게 향상되었습니다. 이 모델의 강력한 컨트롤러 및 통합 소프트웨어 (다양한 보드 옵션 및 인터페이스 기능 결합) 는 J 750을 마이크로 프로세서, 집적 회로 (integrated circuit) 및 기타 복잡한 전자 제품 테스트를위한 완벽한 장비로 만듭니다.