판매용 중고 TERADYNE J750 #9315889

테라 딘 J750 (TERADYNE J750) 은 복잡성이 높은 설계 및 장치/연결 어플리케이션을 위한 경제적이고 확장 가능한 테스트 솔루션을 제공하기 위해 설계된 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 아날로그, 디지털, MEMS, RF, 광학 테스트 기술과 대용량 회로 내 (in-circuit) 테스트를 최적화하여 모든 테스트 응용 프로그램에 대한 최고의 범위를 제공합니다. TERADYNE J 750 Final Test (최종 테스트) 장치는 광범위한 애플리케이션 소프트웨어 및 설계 툴을 통해 지원되며, 이를 통해 기계는 고객의 기존 테스트 환경 및 기존 테스트 장비와 상호 작용할 수 있습니다. 이 도구의 핵심에는 초당 32 개의 Giga 샘플 (Gsps) 을 제공하는 고속 컨트롤러가 있으며, 최대 1,024 개의 핀과 16 개의 비 핀 I/O 채널을 처리하여 뛰어난 성능과 낮은 오버 헤드를 가진 자산을 제공합니다. J750은 또한 아날로그, 디지털, MEMS 및 RF 테스트 채널에 대한 정교한 ATPG (Automatic Test Pattern Generation) 알고리즘을 제공하여 최대 테스트 범위를 허용합니다. 동적 (Dynamic) 이지만 효율적인 (Efficient) 테스트 패턴은 저전력 테스트 환경을 지원하므로 J 750은 강력한 어플리케이션에 이상적인 선택입니다. 온보드 스마트 메모리 (Smart Memory) 와 이더넷 연결 (Ethernet Connectivity) 은 경쟁 솔루션에 비해 또 다른 장점을 제공하므로 기존 테스트 프로그램을 쉽게 관리할 수 있습니다. 또한, TERADYNE J750은 아날로그 (Analog) 및 디지털 (Digital) 도메인에서 최대 20 가지 파형을 생성 할 수있는 내장 파형 생성기를 특징으로하여보다 빠르고 포괄적인 디버깅 및 생산 테스트를 가능하게합니다. TERADYNE J 750은 또한 복잡한 설계 실패의 분석을 지원하는 자동 장애 매핑 및 crosstalk/skew 감지 기능이있는 고급 FCA (Fault Cover Analysis) 를 제공합니다. FIST (Fault Isolation Stress Test) 기능은 또한 테스트 결과의 신뢰성을 높여 허위 실패, 검색 실패 및 조사 결과 장애를 줄입니다. 또한, J750 은 특허를 획득한 "Loop-Through" 테스트 아키텍처를 활용하여 멀티채널 디바이스를 빠르고 효과적으로 테스트할 수 있습니다. 결론적으로 J 750 R750 은 IoT/접속 애플리케이션과 복잡한 디바이스 설계를 모두 위해 설계된 포괄적이고 경제적이며 안정적인 최종 테스트 모델입니다. 자동 ATPG, 지능형 메모리, 다양한 파형 생성기, FCA 기능, FIST, 루프스루 테스트, 고급 테스트 소프트웨어 등의 기능을 통해 통합 테스트 개발, 기존 테스트 환경과의 원활한 통합이 가능합니다.