판매용 중고 TERADYNE J750 #9265243

테라 딘 J750 (TERADYNE J750) 은 최종 테스트 및 검사 응용프로그램을 위한 효율적이고 안정적인 솔루션을 제공하도록 설계된 고급 모듈식 회로 내 (in-circuit) 테스트 장비입니다. 이 시스템은 메인프레임 (Mainframe) 및 테스트 모듈 (Test Module) 로 구성되며 개별 테스트 채널 또는 테스트 사이트를 생성하는 데 사용됩니다. 디지털, 아날로그 (analog), 경계 스캔 (boundary-scan) 및 높은 처리량과 병렬로 최고의 복잡성을 테스트할 수 있습니다. 이 장치의 모듈식 설계 (modular design) 를 통해 회사는 높은 처리량 테스트 기능을 제공하면서 정확한 테스트 요구사항에 맞게 기계를 사용자 정의할 수 있습니다. 이 툴의 핵심은 테스터 메인프레임 (tester mainframe) 으로 구성되어 있으며, 개별 테스트 사이트로 기능하는 모듈은 최대 4 개입니다. 메인프레임의 각 테스트 사이트에는 5 개의 테스트 채널을 포함하는 2 개의 드라이버/리시버 보드가 있습니다. 이 보드는 테스트 모듈과 UUT (Unit Under Test) 간의 전원 및 통신, 그리고 테스트 작업의 타이밍 및 동기화 관리를 담당합니다. 메인프레임의 각 테스트 사이트에는 자체 테스트 헤드 (Test Head) 커넥터와 전원 공급 장치 (Power Supply) 가 장착되어 있어 유연성을 테스트하고 정확성을 높입니다. 에셋은 디지털 I/O 모듈, IC 테스트 모듈, IC 카드 리더, ATD (Analog Transition Detector) 모듈 등 다양한 테스트 모듈 범주에 연결할 수 있습니다. 다른 모듈에는 다양한 유형의 테스트 신호 (test signal) 와 구조 (structure) 가 포함되어 있어 모델의 정확성으로 가장 복잡한 디지털 (digital) 또는 아날로그 (analog) 테스트 시퀀스도 처리 할 수 있습니다. 각 디지털 I/O 모듈은 일반적으로 최대 18 개의 채널을 지원하는 반면, ATD 와 같은 아날로그 회로는 모든 유형의 작은 신호 수준을 테스트할 수 있습니다. 이 장비는 테스트 프로세스 (Test Process) 를 정확한 사양에 맞게 조정할 수 있는 특수 테스트 소프트웨어 (Test Software) 및 소프트웨어 개발 툴과 함께 사용할 수도 있습니다. 이 소프트웨어를 사용하여 테스트 항목 식별 (test-item identification) 및 로트 제어 (lot control) 를 위한 사용자 정의 테스트 매개변수, 템플릿, 추적 정보 등을 쉽게 생성할 수 있습니다. 또한, 이 소프트웨어는 간단한 회로에서 고급 시스템에 이르는 최신 결함 데이터 분석, 복잡한 테스트, 진단, 다양한 레이아웃과의 호환성을 위한 기본 알고리즘을 제공합니다. 전반적으로 TERADYNE J 750 Final Test System은 정확성과 속도로 가장 복잡한 제품조차도 테스트 할 수있는 광범위한 플랫폼을 제공합니다. 따라서 제품 요구 사항에 맞게 구성이 쉽고 효율적인 테스트 장치 (Testing Unit) 를 찾는 기업에게 이상적인 솔루션이 됩니다.