판매용 중고 TERADYNE J750 #9265242

TERADYNE J750은 전자 장치 테스트를위한 매우 정교한 최종 테스트 시스템입니다. 기본 장치 디버그부터 고해상도 어플리케이션 (예: 번인 (burn-in), 자동차 안전 크리티컬 기술, 무선 주파수 테스트) 에 이르기까지 다양한 테스트 환경에서 사용할 수 있습니다. 높은 정확도와 속도가 필요한 제조업체에 이상적입니다. TERADYNE J 750은 최대 8 개의 테스트 모듈을 갖춘 모듈식 설계를 갖추고 있습니다. 이 제품은 모듈당 최대 64 핀 (pin) 까지 디바이스 복잡성을 테스트하고 최대 1024 개의 병렬 테스트 채널을 제공할 수 있습니다. J750 은 고속 핀 멀티플렉싱을 통해 기존 시스템 속도의 최대 8 배까지 테스트할 수 있습니다. 기록된 결과의 품질 (Quality) 과 무결성 (Integrity) 을 보장하기 위해 테스트 중에 통계 정보를 기록할 수도 있습니다. J 750에는 TERADYNE VirtuaLab 소프트웨어가 장착되어 있으며, 이 소프트웨어는 테스트 프로그램을 프로그래밍하고 테스트 프로세스를 제어하기 위한 직관적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 제공합니다. 이 소프트웨어는 또한 벡터 기반 파형 프로그래밍 (vector based waveform programming) 과 1000 개가 넘는 테스트 라이브러리를 제공하여 테스트에서 높은 정확도를 달성하기 쉽습니다. 고급 하드웨어 아키텍처 (Advanced Hardware Architecture) 를 사용하면 내부 제어를 통해 각 핀에 대한 테스트 레벨을 정의할 수 있습니다. 또한, TERADYNE J750 은 다양한 데이터 분석 툴과 유연성을 제공하여 다양한 테스트 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 통합/이동식 메모리 (Integrated Memory), 전용 테스트 프로그램, 조정 기능, 향상된 멀티 사이트 기능 등을 모두 갖추고 있어 여러 사이트를 동시에 테스트할 수 있습니다. 고급 기능 외에도 TERADYNE J 750 은 강력한 백엔드를 사용하므로 ERP (Enterprise Resource Planning) 시스템과 통합하여 제품 성능 및 고객 서비스를 손쉽게 추적, 분석할 수 있습니다. 이렇게 하면 사용자의 작업을 보다 단순하고, 빠르고, 효율적으로 수행할 수 있습니다. 또한 결함 인식에 도움이되어 제품에 대한 손상이 줄어 듭니다. J750 은 제품 테스트의 품질과 무결성을 향상시키도록 설계된 첨단 전자 제품 테스트 시스템입니다. 이 제품은 견고하고, 확장성이 뛰어나며, 사용자 작업을 단순화하여 고밀도 (high-density) 부품과 보다 복잡한 전자 제품을 테스트하는 데 이상적인 솔루션입니다.