판매용 중고 TERADYNE J750 #9262642

TERADYNE J750 최종 테스트 장비 (Final Test Equipment) 는 반도체 장치 및 회로 기판 테스트의 정확성과 신뢰성을 높이기 위해 설계된 자동 테스트 핸들러입니다. TERADYNE J 750은 높은 수준의 통합 및 모듈식 유연성을 제공하여 향상된 테스트 적용 범위, 높은 처리량, 작은 설치 공간 운영을 제공합니다. J750 Final Test System은 여러 제품을 동시에 테스트할 수 있는 뛰어난 유연성을 제공하여 처리량과 수율을 모두 향상시킵니다. 최신 테스트 처리 (Test Handling) 기술을 활용하여 각 테스트 지점에서 가장 정확하고 안정적인 테스트 결과를 얻을 수 있습니다. J 750은 여러 가지 테스트 활동이 동시에 발생할 수 있도록 내장 마이크로 프로세서를 갖추고 있습니다. 이러한 작업에는 다중 사이트 테스트, 스캔 경로 테스트 및 패턴 테스트가 포함됩니다. 이 장치는 GPIB, RS-232 및 이더넷을 포함한 다양한 테스터 인터페이스를 지원합니다. 강력한 프로세서 (processor) 및 인터페이스 (interface) 기능을 통해 시스템은 다양한 테스트 소프트웨어와 상호 작용할 수 있으며, 모든 디지털 또는 아날로그 구성 요소를 사용하여 제품을 테스트할 수 있습니다. TERADYNE J750은 싱글 및 비 싱글 테스트 핸들러, 베드 오브 네일 핸들러, 로드 보드 테스터 등 다양한 핸들러 구성을 제공합니다. 유연한 핸들러 (handler) 구성을 사용하면 정확한 테스트 요구 사항에 맞게 도구를 사용자 정의할 수 있습니다. 또한 TERADYNE J 750은 BGA, TSOP, SOIC 및 기타 구성 요소 유형을 포함한 다양한 장치를 테스트 할 수 있습니다. J750은 전기 핀 수행 테스트, 단락 방법, 향상된 패라메트릭 테스트, 컴포넌트 마킹 (component marking) 및 기타 테스트 방법과 같은 고급 테스트 기술을 사용합니다. 이 테스트는 패라메트릭 테스트, 기능 테스트, 손톱, 컴포넌트 마킹 등을 포함한 다양한 조합에서 빠르고 정확하게 수행됩니다. 또한, 테스트 데이터는 자산의 내부 데이터베이스에 저장되며, 이를 보고 및 분석에 사용할 수 있습니다. 이 모델은 ATE 로드 보드, 고정장치 카드, 사용자 정의 테스트 테이프 미디어, 업계 표준 테스트 미디어 등 다양한 테스트 일정 및 테스트 미디어를 지원합니다. 또한, J 750 은 다양한 테스트 구성과 제품 유형 간에 빠르게 전환할 수 있도록 유연한 플랫폼 (Flexible Platform) 으로 설계되었습니다. 이 기능은 신제품 설계 출시 시간을 대폭 단축합니다. 테라 딘 J750 (TERADYNE J750) 은 저렴한 가격에 일관된 테스트 결과가 필요한 대용량 테스트 작업을 위한 효율적이고 안정적인 솔루션입니다. 고급 테스트 기능, 다중 사이트 테스트 기능, 광범위한 테스트 미디어 지원 등을 갖춘 TERADYNE J 750 은 운영/리서치/개발 환경 모두에 이상적인 테스트 솔루션입니다.