판매용 중고 TERADYNE J750 #9262267

테라 딘 J750 (TERADYNE J750) 은 복잡한 구성 요소의 테스트 및 검증 품질을 향상시키기 위해 설계된 매우 정교한 최종 테스트 장비입니다. 마이크로프로세서 (microprocessor), 디지털 신호 프로세서 (digital signal processor), ASIC (ASIC), 마이크로컨트롤러 (microcontroller) 등 다양한 하이엔드 구성 요소에 대한 탁월한 장애 적용 범위와 테스트 속도를 제공하는 자동화된 연속 테스트 시스템입니다. 이 장치는 디지털 핀 전자 제품, 동시 멀티 사이트, 디지털 패턴 생성, 직접 데이터 획득, 정확한 프로그래밍 가능한 전압 소스와 같은 널리 배포 된 검증된 테스트 기술을 기반으로합니다. TERADYNE J 750에서 사용하는 디지털 핀 전자 장치는 모든 디지털 장치를 테스트 할 수 있습니다. 핀 전자 장치는 500MHz에서 고속 신호 전환 및 스위칭 정확도를 제공하며, 고급 신호 품질 어플리케이션을 위해 신호 무결성 (signal integrity), 크로스 토크 감소 (crosstalk) 및 임피던스 매칭 (impedance matching) 에 이상적인 파형을 제공합니다. 동시 다중 사이트 모드 (multimaneous multi-site mode) 는 병렬 테스트를 허용하여 여러 사이트에서 동시에 시스템을 테스트할 수 있습니다. 이 테스트 모드는 처리량을 높이고 궁극적으로 출시 시간을 단축합니다. 테스트 툴은 정적 (static) 모드와 동적 (dynamic) 모드 모두에서 패턴 생성 및 테스트를 수행할 수도 있습니다. 정적 (static) 모드에서 패턴 생성기는 테스트 중인 장치를 제어하는 데 사용할 수 있는 사용자정의 정적 파형을 생성할 수 있습니다. 이 파형은 리셋 (reset) 명령이 실행될 때까지 안정적으로 유지되며, 이는 신뢰성 테스트 또는 반복적인 파형이 필요한 파형에 이상적입니다. 동적 모드에서는 유사 랜덤 패턴 (pseudo-random pattern) 이나 복잡한 파형을 생성하여 핀과 회로를 구성하는 데 사용할 수 있습니다. 또한, J750에는 전류 및 전압 측정 및 열 테스트 절차를위한 광범위한 온보드 기기 (on-board instruments) 가 포함되어 있습니다. 이러한 기기는 전압, 전류, 온도 및 파형과 같은 매개 변수를 측정하는 데 이상적입니다. 이러한 측정은 테스트 과정에서 예상 값을 비교하는 데 사용됩니다. 이 고급 측정 스크립팅 (advanced measurement scripting) 기능은 열 및 전기 응력 테스트에 더 나은 모델을 생성하여 프로세스의 정확도를 향상시킵니다. 마지막으로, 자산은 3 개의 무접촉 테스트 프로브 (Contactless Test Probe) 를 자랑합니다. 이 프로브는 테스트 헤드에 연결되어 테스트 대상 장비와 자동 테스트 장비 (Automated Test Equipment) 하의 장치 사이에 신뢰할 수 있고 높은 정확도를 제공합니다. 이를 통해 테스트 모델의 모든 컴포넌트가 안정적으로 유지되고, 디바이스는 테스트 및 처리됩니다. 또한, 고속 CCD 카메라는 장비 처리량을 손상시키지 않고 동시 비전 분석과 함께 빠른 프레임 캡처를 제공합니다. 전반적으로, J 750 은 매우 효율적이고 안정적인 최종 테스트 시스템으로, 구성 요소 테스트 및 검증 정확도를 획기적으로 향상시킬 수 있습니다. 고급 핀 전자 제품, 동시 멀티 사이트 테스트, 패턴 생성, 광범위한 측정 기기, 무접촉 테스트 프로브, 고속 CCD 카메라 등 다양한 기능과 기능을 제공합니다. 이 제품은 더 빠른 제품 테스트, 향상된 장애 적용 범위, 출시 기간 단축 등의 이점을 제공합니다.