판매용 중고 TERADYNE J750 #9240602

TERADYNE J750은 다양한 전자 제품을 테스트하기위한 강력한 고속, 멀티 사이트, 자동 테스트 장비 시스템 인 Final Test Equipment입니다. 이 장치는 단일 테스트 프레임에서 최대 128 개의 테스트 사이트를 처리 할 수 있으며 칩-보드 프로토 타입 (chip-to-board prototype) 부터 대용량 고핀-카운트 (high-volume, high-pin-count) 제품에 이르기까지 다양한 장치를 지원할 수 있습니다. 확장 가능하고, 유연하며, 비용 효율적인 솔루션으로, 광범위한 테스트 과제 및 환경을 제공합니다. 테라 딘 J 750 (TERADYNE J 750) 은 다양한 인터페이스 및 인터페이스 유형 조합을 수용하여 개별 테스트 요구 사항을 충족하도록 조정할 수 있도록 설계되었습니다. 이 기계는 패라메트릭 (parametric) 및 기능 테스트, 메모리 테스트, 통계 분석, 장치 특성 등 다양한 테스트 절차를 지원하여 효율적으로 처리합니다. 혁신적인 온보드 프로세서 기술을 통해 고속 데이터 전송 및 동시 테스트 실행이 가능합니다. 또한 J750 은 포괄적인 소프트웨어 지원 툴을 제공하므로 수동 (manual) 에서 자동 (automated) 테스트로 손쉽게 전환할 수 있습니다. 장치 설정 (device-setup) 및 프로그래밍 응용 프로그램은 직관적인 그래픽 인터페이스를 제공하여 테스트 엔지니어가 장치 구성 설정 및 테스트 프로그램을 신속하게 생성, 확인, 디버그할 수 있습니다. 이 기능의 배열을 사용하면 장치 테스트 프로젝트를 빠르고 정확하게 증가시킬 수 있습니다 (영문). 이 도구는 또한 보드 레벨 진단, 온도 챔버, 소스 측정 단위, 전원 공급 장치, RF 프로브 솔루션 등 다양한 확장 가능한 구성 요소를 제공하여 자산 아키텍처에 쉽게 통합할 수 있습니다. 또한, 다수의 경쟁/비경쟁 (non-competitive) 테스트 서브시스템과 호환되므로 기존 테스트 시스템과의 완벽한 통합이 보장됩니다. 모델의 유연성은 다양한 테스트 사이트의 '혼합 및 일치 (mix-and-match)' 를 통해 멀티 사이트, 플로어 플랜 최적화 및 향상된 밀도 사용을 가능하게 합니다. 전반적으로 J 750 Final Test Equipment (최종 테스트 장비) 는 개방형 아키텍처와 다양한 맞춤형 옵션을 갖춘 강력하고 다양한 테스트 솔루션입니다. 혁신적인 기술과 고급 소프트웨어 툴 (Advanced Software Tools) 을 통해 생산성을 높이고 테스트 비용을 대폭 절감할 수 있습니다. TERADYNE J750은 확장성, 확장성, 호환성, 유연성 및 최적의 비용 효율성을 제공하여 복잡한 테스트 환경에서 품질 보장을 위한 이상적인 선택입니다.