판매용 중고 TERADYNE J750 #9231467
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ID: 9231467
Tester
Docked with ACCRETECH / TSK UF 200 Series
512 Channels
Clock: 100MHz
EPA: +/-325ps
LVM: 16M
SVM: 1K
DPS (8 Channels/Board): 32 Channels
(4) MTO Boards.
TERADYNE J750은 집적 회로의 제조 공정에 사용되는 Final Test 장비입니다. 이 시스템은 자동 테스트 장치 (Automated Test Unit) 로, 전자 부품에 대해 여러 가지 유형의 테스트를 수행하고, 부품의 기능 및 품질을 평가하기 위해 컴포넌트의 최종 어셈블리를 수행합니다. 테라 딘 J 750 (TERADYNE J 750) 은 극한의 온도 및 진동 요구 사항에서 클린 룸 운영에 이르기까지 광범위한 제조 환경에서 작동하도록 설계되었습니다. 안정적이고 효율적인 여러 자동 테스트 프로세스를 활용합니다. J750 은 멀티 챔버 (multi chamber) 구성을 통합하여 동시 테스트 실행 기능과 제품 실행 시간을 단축합니다. 또한 변경 시간을 최소화하여 테스트가 신속하게 완료되도록 합니다 (영문). 컴퓨터에는 다양한 테스트 구성을 구성하기 위해 결합할 수있는 여러 개의 교환 가능한 모듈이 있습니다 (영문). J 750의 유연성은 특정 요구 사항에 맞게 조정할 수 있습니다. 이 도구는 자동화된 온보드 버퍼 스토리지 (on-board buffer storage) 를 갖추고 있어 완벽한 품질 제어를 가능하게 하는 여러 테스트 미디어를 로드할 수 있습니다. 이 기능을 구현하면 제품의 품질과 안정성이 보장됩니다. TERADYNE J750 은 고급 패턴 일치 (advanced pattern matching), 내장형 진단, 데이터 수집 등 여러 고급 테스트 기능을 통합하여 최종 제품을 심층적으로 평가합니다. 이 자산은 또한 최소 감지 시간 (detection time) 에 고속 테스트 핀을 사용하여 고속 작동을 지원합니다. TERADYNE J 750은 또한 향상된 프로그래밍 기능을 갖추고 있으며, 사용자는 테스트 매개변수를 사용자 정의하고, 자체 설계 알고리즘과 절차를 추가할 수 있습니다. 이 기능을 통해 모델은 다양한 디바이스 토폴로지, 테스트 설계, 구성 요소에 적합합니다. 이 장비는 매우 자동화되어 있으며, 최소한의 운영자 (operator) 의 개입이 필요하며, 사용자 인터페이스를 최적화하여 손쉽게 작동할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 신뢰할 수 있는 테스트 엔지니어링 (Test Engineering) 실행을 통해 수작업 개입의 필요성을 최소화합니다. J750 에는 견고한 랙 장착 장치 (rack mounting unit) 가 장착되어 있어 기계가 지정된 공간에 안전하게 보관됩니다. 따라서 툴이 안전하고, 효율적이며, 유지 보수 비용이 낮아 TCO (총 소유 비용) 를 더욱 절감할 수 있습니다. J 750 은 신뢰할 수 있는 고속 (High-Speed) 테스트 자산으로, 광범위한 고객 응용프로그램을 위한 전자 제품 부품 제조에 여러 종류의 테스트에 사용할 수 있습니다. 자동화된 테스트 프로세스 (Automated Testing process) 는 제품의 품질을 극대화하는 한편, 전반적인 운영 비용과 시간을 최소화합니다.
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