판매용 중고 TERADYNE J750 #9231466
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ID: 9231466
Tester
Docked with ACCRETECH / TSK UF 200 Series
512 Channels
Clock: 100MHz
EPA: +/-325ps
LVM: 16M
SVM: 1K
DPS (8 Channels/Board): 32 Channels
CTO (8 Channels/Board): 8 Channels.
TERADYNE J750 은 복잡한 제품 기술 요구 사항을 충족하도록 설계된 고성능, 고성능, 처리량, 동시 멀티 사이트 테스트 장비입니다. 분산 아키텍처는 여러 제품 회로를 동시에 테스트하는 데 적합합니다. 강력한 DBase (tm) 소프트웨어 플랫폼은 종합적인 시스템 테스트를 지원하여 진단, 분석, 문제 해결 등 동시 인라인 (in-line) 작업을 지원합니다. 광 탐지기 (Optical Detector), 스캐닝 프로브 (Scanning Probe), 다중 입력 릴레이 장치 (Multi-Input Relay Unit) 와 같은 고급 하드웨어 구성 요소는 여러 사이트 (On/OFF) 의 신호를 정확하게 측정하여 높은 수준의 제품 품질 보증을 보장할 수 있습니다. TERADYNE J 750에는 자동 테스트 시퀀스 모드, 자동 보정 기능 및 안전하고 신뢰할 수있는 테스트 장치가 있습니다. 하드웨어, 소프트웨어 서브시스템을 통합하도록 설계된 고급 프로그래밍 언어 (advanced programming language) 를 통해 제품의 성능, 결함, 신뢰성을 철저히 테스트할 수 있습니다. 장애가 감지되면, 시스템은 수정, 복잡성, 심각도를 자동으로 파악하고, 추가 분석을 위한 테스트 데이터 로그 (test data log) 를 제공할 수 있습니다. J750 은 개발 주기 초반 모델 테스트를 위한 탁월한 회로 내 (in-circuit) 테스트 지원을 제공하며, 고급 테스트 방법을 지원합니다. 감사 검토 보고서 (Audit Review Report) 기능에서 지원하는 사용자 정의 가능한 테스트 결과를 통해 사용자는 테스트 결과를 평가하고 장애 영역을 신속하게 감지할 수 있습니다. 향상된 내장형 내결함성 (fault tolable) 툴을 통해 제품 장애를 실시간으로 진단할 수 있으므로 제품 문제에 보다 신속하게 대응할 수 있습니다. 이 자산은 표준 진단 테스트 (Diagnostic Test) 외에도 고급 장애 예측 (Failure Forecast) 및 제품 마진 테스트 기능도 제공합니다. 이렇게 하면 지정된 운영 조건 (Operating Condition) 및 환경에서 제품의 예상 동작을 평가할 수 있습니다. 제품 엔지니어 (Product Engineer) 는 제품의 예상 동작을 모니터링하고 예측할 수 있는 기능을 통해 자사 제품에 대한 포괄적인 테스트를 보다 효율적으로 수행할 수 있습니다. J 750 은 탁월한 최종 테스트 모델로서 비용 효율성과 성능을 모두 제공합니다. 고급 기능 (Advanced Features) 과 기능을 통해 개발자는 제품을 신속하게 테스트하고 분석할 수 있으므로 완성된 제품의 품질과 신뢰성을 높일 수 있습니다. 종합적이고 구성 가능한 플랫폼을 갖춘 고급 회로 내 (in-circuit) 테스트 기능을 원하는 엔지니어와 기술자를 위한 이상적인 테스트 장비입니다.
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