판매용 중고 TERADYNE J750 #9231465

테라 딘 J750 (TERADYNE J750) 은 고성능 열전 테스트 장비로, 오늘날 전자 제품 생산 환경의 가장 엄격한 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다. 고급 자동화, 고속 및 저전력 테스트 기능, 유연한 구성을 갖추고 있습니다. 이 시스템은 집적 회로, 이산 반도체 장치, 메모리 장치 등의 다양한 테스트, 전기 분석 어플리케이션을 지원합니다. TERADYNE J 750은 집적 회로 및 인쇄 회로 기판 제조업체에 매우 효율적이고 비용 효율적인 최종 테스트 솔루션을 제공하기 위해 설계되었습니다. 고속/저전력 기능을 통해 저렴한 비용으로 복잡한 디바이스를 정확하게 테스트할 수 있으며, 고급 자동화/구성 옵션을 통해 시간 절약, 테스트 비용 절감, 전체 제품 비용 절감 등의 이점을 누릴 수 있습니다. 이 장치는 다양한 테스트, 전기 분석, 프로덕션 관리 소프트웨어 (Software) 프로그램을 지원하므로 결함이 있는 장치를 빠르고 정확하게 식별하고 분석할 수 있습니다. J750 은 모듈식 시스템 (modular machine) 으로, 다양한 기술로 구성되어 테스트 범위, 처리량, 데이터 정확도를 극대화할 수 있습니다. 이 도구는 장애 분석, 신호 무결성 분석, 설계 검증, 장치 특성, Boundary Scan, 반도체 조사 등 다양한 테스트 및 전기 분석 응용 프로그램을 지원합니다. 또한 여러 개의 동시 테스트를 지원하므로 여러 장치를 동시에 빠르고, 정확하게 파악하고, 분석할 수 있습니다 (영문). J 750 은 고속 디지털 버스와 비차단 스위치 패브릭 (non-blocking switch fabric) 을 갖추고 있어 다양한 구성 요소 간의 효율적인 통신을 지원합니다. 이 자산은 또한 고급 장애 감지 (fault-detection) 기능을 제공하여 신속한 장애 분석 및 수리 기능을 제공합니다. 또한 통합 환경 모니터링 시스템 (Integrated Environmental Monitoring Systems) 을 지원하며, 이를 통해 사용자는 특정 애플리케이션에서 최적의 성능을 위해 모델을 구성할 수 있습니다. 결론적으로, TERADYNE J750은 집적 회로 및 인쇄 회로 기판 제조업체를위한 고급, 포괄적 인 최종 테스트 장비입니다. 고급 자동화/구성 옵션, 고속/저전력 (LP) 기능, 통합형 환경 모니터링 시스템 등을 통해 비용 대비 효율성과 정확성을 모두 향상시킬 수 있습니다.