판매용 중고 TERADYNE J750 #9215238

TERADYNE J750 최종 테스트 장비 (Final Test Equipment) 는 대용량 생산 환경과 R&D 실험실에서 장치 테스트를 위해 설계된 다양하고 신뢰할 수있는 테스트 솔루션 플랫폼입니다. 이 시스템은 업계에서 인정받는 스캔 테스트 인터페이스를 사용하여 엔지니어가 DUT (Device Under Test) 를 빠르고 정확하게 테스트할 수 있도록 합니다. 이 장치는 다양한 테스트 및 디버깅 (debugging) 작업에 적합한 경제성과 고급 성능을 제공하도록 설계되었습니다. TERADYNE J 750은 다양한 테스터 하드웨어 구성 및 테스트 기술 옵션을 제공합니다. 여기에는 FPGA 기반 벡터 생성, 결정적 타이밍 제어, 전용 ATE 구성 요소를 갖춘 모듈식 테스트 아키텍처 중에서 선택할 수 있습니다. 또한 최대 300mm 크기의 장치를 테스트하기 위해 Airwafer 및 Contact Handler 옵션을 모두 제공합니다. 또한, J750 은 동적 테스트 제품군을 자랑하며, 이를 통해 엔지니어는 대용량 운영 중에도 테스트 패턴을 빠르고 쉽게 재프로그램할 수 있습니다. 또한 J 750 은 테스트 대상 장치의 성능에 대한 강력한 평가를 제공합니다. 여기에는 최대 600 MHz (샘플 레이트) 의 파형을 테스트하고, 이를 구성 요소 수준까지 해석하는 강력한 알고리즘을 적용하는 기능이 포함됩니다. TERADYNE J750은 또한 통합 RF 측정 시스템과 벡터 신호 분석기, 신호 분석기 및 신호 생성기를 갖춘 내장 고급 RF 테스트 기능을 제공합니다. 마지막으로, TERADYNE J 750은 전력 측정을위한 J750 PowerMeter, 고속 및 저전력 인터페이스 테스트를위한 MIPI 프로브, 디버깅을위한 높은 신뢰성, 고성능 프로브 및 소켓 등 다양한 연결 및 테스트 도구를 제공합니다. 이러한 유연성을 통해 빠르고 쉽게 설치할 수 있으며, 탁월한 수율을 제공합니다. J 750 Final Test Machine (최종 테스트 시스템) 은 다양한 전자 부품, 모듈 및 시스템을 테스트하고 디버깅할 수 있는 강력하고 다양한 솔루션입니다. 특정 요구사항에 맞게 맞춤형으로 구성할 수 있으며, 확장성 (Scalability) 을 통해 다양한 규모의 운영 시스템에 적응할 수 있습니다. 또한 직관적인 스캐닝 인터페이스 (Scanning Interface), 강력한 평가 도구 (Powerful Assessment Tools) 및 강력한 지원을 통해 대용량 운영 환경과 R&D 실험실에서 신뢰할 수 있는 장치 테스트를 수행하는 데 이상적인 솔루션입니다.