판매용 중고 TERADYNE J750 #9210543
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ID: 9210543
Tester
Cabled for 512 channels, P/N: 918-338-20
(3) Digital channel boards, P/N: 239-026-03
Digital channel boards, P/N: 239-001-03
(4) Memory test options (MTO), P/N: 239-014-00
(2) DPS, P/N: 239-016-03
Workstation XW6000 with Windows 2000
14" LCD Monitor
Hinge-type manipulator
BASLER ELECTRIC Power conditioner
J750 System shipping cart
Fabricated J750 cart
CAL CUB Board, P/N: 239-020-06
No Kinetics locking
Not included:
APMU Mian board
APMU Relay card
APMU Rider board
Prober / Handler interface type
Converter test option (CTO).
TERADYNE J750 최종 테스트 장비는 현재 시장에서 가장 고급 테스트 시스템 중 하나입니다. 이전 모델보다 빠른 속도, 정확성, 신뢰성 (안정성) 을 제공하도록 설계되어, 까다로운 테스트 요구를 충족하는 완벽한 선택이 되었습니다. 테라 딘 J 750 (TERADYNE J 750) 은 고주파 운영용으로 제작되었으며, 전자 제품 및 소프트웨어 엔지니어링의 최신 발전을 통해 높은 성능과 신뢰성을 제공합니다. 마더보드는 SHARC 프로세서를 기반으로 하며 고속 메모리 어레이 (array of high-speed memory), 리치 데이터 획득 플랫폼 (rich data-acquisition platform) 및 임베디드 시스템 소프트웨어가 장착되어 있습니다. 이 장치는 널리 사용되는 업계 표준 설비, 테스트 프로그램, 보드 (board) 와 호환되므로 기존 테스트 시스템에 쉽게 통합할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 고객의 특정 요구 사항에 맞게 손쉽게 조정할 수 있는 다양한 옵션 (옵션) 을 갖추고 있습니다. 예를 들어 ALDS (Advanced Load Dimming Tool) 를 사용하여 고속 테스트를 정확하게 제어할 수 있습니다. J750 은 무제한의 병렬 (parallel) 테스트를 통해 실행할 수 있으며, 높은 처리량 테스트에 사용할 수 있습니다. 보드를 로드할 때부터 언로드할 때까지의 유연한 자동화 (automation) 기능을 통해 대용량 운영 테스트 요구를 충족할 수 있습니다. J 750 의 강력한 전기 테스트 (Electrical Test) 기능에는 다양한 고급 테스트 요구 사항에 대한 테스트가 포함됩니다. 간단한 고속 전환에서 도전적인 고속 자극에 이르기까지, TERADYNE J750 은 다양한 테스트 요구를 쉽게 수용할 수 있습니다. 전원 사이클, 동적 전원 테스트, 신호 무결성, 기능 테스트와 같은 애플리케이션에 적합합니다. 이 자산은 고객에게 최고의 유연성을 제공하도록 설계된 다양한 고급 소프트웨어 (Advanced Software) 및 하드웨어 (Hardware) 옵션을 제공합니다. 소프트웨어 지원 옵션에는 간편한 관리/구성 테스트 (Project Configuration) 가 포함됩니다. 하드웨어 옵션에는 분리 기능을 추가 할 수있는 LFT 및 Loose Linear Expansion 키트 또는 Loose Linear ANSI Protocol 및 TestPoint Support가 포함되어 있으며 TERADYNE J 750은 거의 모든 유형의 인터페이스와 호환됩니다. 전반적으로 J750은 시장에서 가장 발전된 최종 테스트 시스템 중 하나입니다. 다양한 고출력, 고주파 (High-Frequency) 애플리케이션에 적합하며 고객의 구체적인 요구 사항을 쉽게 충족할 수 있습니다. 따라서 안정적이고 정확한 테스트 모델을 원하는 고객에게 이상적인 선택이 됩니다.
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