판매용 중고 TERADYNE J750 #9207088

테라 딘 J750 (TERADYNE J750) 은 테스트 데이터 정밀도 및 정확도에 대한 수요 증가를 충족하도록 설계된 완전 자동화된 고성능 최종 테스트 플랫폼입니다. TERADYNE J 750은 Probe 액세스, 유연성, 고속 스위칭 스위칭 네트워크 및 고급 계기의 조합을 사용하여 정확하고 정확한 테스트 데이터를 확인합니다. J750은 전송 회선 (Transmission Line) 및 무접촉 (Contact-less) 테스트 기능을 통해 최소 128 개의 프로브를 지원하는 최대 64 개의 사이트를 제공합니다. 이 장비는 ATS (Automatic Test Systems) 및 SPS (Single Probing Station) 에 직접 인터페이스를 지원할 수 있습니다. J 750은 또한 최대 496 개의 전원 모듈, 유연한 멀티플렉싱을위한 12 개의 디지털 입/출력 모듈 및 RF 및 오디오와 같은 구성 가능한 다중 분석기, PLC (programmable logic controller) 를 제공합니다. TERADYNE J750 은 대규모 운영 실행에 적합한 빠른 테스트 시간 (time) 과 높은 처리량을 제공하도록 설계되었습니다. 고성능 IC에서 웨이퍼 레벨 테스트 (wafer level testing) 에 이르기까지 다양한 어플리케이션에 적합한 기능을 통해 재작업 및 장애 진단 (Rework and Failure Diagnosis) 및 빠른 장애 분석 (Quick Failure Analysis) 에 최적화되었습니다. TERADYNE J 750 은 사용자 정의 가능한 테스트 요소와 실시간 테스트 수정 (correction) 을 통해 고객이 신속하게 결함을 진단하고 테스트 시간을 최적화할 수 있는 고급 프로그래밍 기능을 제공합니다. 이 시스템은 또한 원격 액세스 및 제어, 가동 시간 향상을 위한 이중 아키텍처, 그리고 데이터 관리 향상을 위한 고급 보고 기능 (Advanced Reporting Capability) 을 제공합니다. 또한 J750은 최고의 유연성과 확장성을 제공하도록 설계되었습니다. 고속 디지털 신호 획득, 프로그래밍 가능한 계기, 다중 축소판, 사용자 정의 핀 할당 등 다양한 옵션을 제공합니다. 또한 인터페이스 모듈 (interface module) 과 접착제 로직 (glue logic) 용 인터페이스를 제공하여 자체 테스트 프로그램을 추가할 수 있습니다. 요약하자면, J 750 은 최종 테스트 단위에서 높은 성능과 정확성을 필요로 하는 고객에게 이상적인 선택입니다. 모듈식 설계로 확장성이 쉽고 유연성이 극대화됩니다. 고급 프로그래밍 기능, 실시간 테스트 수정 (Real-Time Test Correction), 이중화 아키텍처 (Redundant Architecture) 를 통해 다양한 구성 요소와 제품을 테스트하는 데 안정적이고 효율적인 시스템입니다.