판매용 중고 TERADYNE J750 #9202386

TERADYNE J750은 다양한 산업에서 사용되는 고급 최종 테스트 장비입니다. TERADYNE J 750 기능에는 사이트당 시간당 200 ~ 800 대 범위의 엄청난 테스트 처리량을 제공하는 듀얼 레인 아키텍처가 포함됩니다. 이 시스템은 가장 복잡한 회로와 장치를 테스트하도록 설계된 포괄적인 테스트 솔루션 (test solution) 을 제공합니다. J750 의 멀티 프로세서 아키텍처를 사용하면 특정 기간 내에 논리 및 메모리 테스트를 실행할 수 있습니다. J 750 은 고급 소프트웨어 플랫폼을 활용하여 프로그래밍 시간, 테스트 모드 등의 테스트 매개변수를 제어합니다. 이 장치에는 또한 독점적 인 상관 관계 테스트가 있으며, 이는 엄격한 알고리즘을 사용하여 잠재적 인 기계 이상을 식별합니다. 이를 통해 TERADYNE J750이 누락 된 결함을 정확하게 찾을 수 있습니다. TERADYNE J 750에는 고급 장애 분석 기능도 장착되어 있습니다. 이 툴은 테스트된 디바이스에서 각 장애의 위치에 대한 정보를 제공하고, 각 장애에 대한 심층적인 분석을 제공합니다 (영문). J750 은 고속 상호 연결과 같은 최첨단 하드웨어 (최첨단 하드웨어) 를 사용하며, 이를 통해 여러 연결 지점 (attachment point) 이 있는 디바이스와 테스트 시점이 매우 많은 디바이스를 안정적으로 테스트할 수 있습니다. 에셋은 또한 향상된 오류 범위를 제공합니다. 즉, 디지털 (digital) 및 아날로그 (analog) 패턴 조합을 사용하여 장애 범위를 늘려 모든 장치를 완벽하게 테스트할 수 있습니다. 신뢰성 측면에서 J 750 (J 750) 은 높은 성숙도를 목표로 설계되었으며, 일정한 움직임으로 인한 재조정 또는 교정의 필요성을 줄입니다. 이 모델은 또한 자동 인식 (automated recognition) 메커니즘을 갖추고 있어 새로운 디바이스 모델을 쉽게 식별할 수 있으므로 주기적인 소스 코드 유지 보수 (source code maintenance) 의 필요성을 줄일 수 있습니다. 또한, 이 장비에는 상세한 결함 보고서가 있는 고급 결함 분석 소프트웨어 플랫폼 (Advanced Defect Analysis Software Platform) 이 포함되어 있어 치료 및 문제 해결이 더욱 신속하게 이루어질 수 있습니다. 전반적으로 TERADYNE J750 은 디바이스 테스트를 위한 포괄적인 솔루션을 제공하며, 테스트 적용 범위와 상세한 결함 분석 (defect analysis) 을 향상시켜 빠르고 안정적인 테스트 결과를 제공합니다. 이 시스템은 가장 까다로운 환경에서 사용하기에 적합하며, 현재 사용 가능한 최고 수준의 테스트 서비스 (Test Covery) 를 제공합니다.