판매용 중고 TERADYNE J750 #9190314

TERADYNE J750 Final Test Equipment는 다양한 IC (Integrated Circuit) 패키지를 정확하고 효율적으로 테스트하기 위해 설계된 반도체 테스트 및 분석 장비입니다. IC 를 빠르고 정확하게 테스트할 수 있어 결함이 있는 부품 (Part) 과 양호한 부품 (Part) 을 식별하고 분리할 수 있습니다. TERADYNE J 750은 포괄적인 소프트웨어 및 하드웨어 구성 요소를 사용하여 IC에서 철저한 테스트를 수행합니다. J750에는 테스트 중인 IC와 상호 작용하는 데 사용되는 일련의 핀 카드 (Pin-Card) 보드가 있습니다. 핀 카드에는 정교한 디지털 및 아날로그 회로 세트가 포함되어 있습니다. 이러한 회로를 통해 J 750 은 IC 의 다양한 매개변수를 정확하게 측정하여 잠재적인 장애를 감지할 수 있습니다. TERADYNE J750 패키지에는 특수 테스트 컨트롤러 ('테트라 링크 (Tetra-Link)') 도 포함되어 있으며, 시스템의 모든 핀 카드가 테스트 실행을 위해 올바르게 구성되어 있습니다. TERADYNE J 750은 몇 가지 정교한 알고리즘과 소프트웨어 프로그램을 사용하여 IC 테스트 및 분석에 필요한 테스트 프로파일을 생성합니다. 이 소프트웨어는 테스트 실행을 생성, 구체화, 자동화하는 광범위한 툴을 제공합니다. 이를 통해 사용자는 각 IC 의 개별 요구 사항에 맞게 테스트 프로토콜을 조정할 수 있습니다. 또한 J750 에는 여러 GUI 인터페이스가 함께 제공되어 테스트 매개변수를 실시간으로 모니터링하고 조정할 수 있습니다. 또한 J 750 에는 발견된 장애의 원인을 파악하는 데 사용할 수 있는 강력한 분석 모듈이 포함되어 있습니다 (영문). 이 모듈은 시간 (time) 과 주파수 (frequency) 영역 모두에서 시뮬레이션을 수행하여 정확하고 포괄적인 장애 특성을 만들 수 있습니다. 이 장치에는 사용자가 테스트 결과를 해석하고 분석하는 데 도움을 주는 다양한 데이터 시각화 (Data Visualization) 기술이 포함되어 있습니다. TERADYNE J750 Final Test Machine은 최신 반도체 장치를 신속하게 테스트하고 특성화하기위한 훌륭한 솔루션을 제공합니다. 강력한 소프트웨어/하드웨어 구성요소 집합을 통해 사용자는 자신의 IC 를 철저하고 정확하게 테스트할 수 있으며, 이를 통해 기기 장애 비율이 낮아질 수 있습니다.