판매용 중고 TERADYNE J750 #9186087

TERADYNE J750
ID: 9186087
Tester Frequency: 100 MHz 512 Pin (8) 64 Channel boards 2006-2009 vintage.
TERADYNE J750은 TERADYNE Inc.의 차세대 ATE (Automatic Test Equipment) 장비로, 전자 제품 제조 업계에서 점점 더 엄격한 최종 테스트 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다. 디지털, 혼합 신호 (Mixed Signal) 및 아날로그 (Analog) 기술을 위한 통합 솔루션으로 다양한 확장성, 고성능 테스트 및 측정 기능을 제공합니다. 이 시스템은 최신 데이터 액세스 및 제어 기술과 TERADYNE 소프트웨어 기술, TestKompress® 기능을 결합하여 포괄적인 실시간 테스트 솔루션을 제공합니다. 이 장치의 데이터 연결, 제어, 측정 및 계측 구성 요소는 고속 병렬 테스트, 다중 우회 버스 (multiple-bypass bussing), 고급 수학 작업 (advanced math operation) 과 같은 극단적 인 테스트 요구를 처리하도록 설계되었습니다. 이 기계는 또한 TERADYNE 고급 테스트 및 측정 기기를 통합합니다. 기기는 다양한 주파수, 테스트 속도, 정확도로 다양한 구성 요소, 회로를 테스트 할 수 있습니다. 이 도구는 결함이 있는 컴포넌트를 감지하고 성능을 심층적으로 검증하기 위해 실제 상황을 시뮬레이션할 수 있습니다. TERADYNE J 750 자산은 Windows XP Professional 플랫폼에서 구성 가능한 소프트웨어를 제공합니다. 이 소프트웨어를 사용하면 모델의 테스트 매개변수를 프로그래밍, 관리하고 웨이퍼 프로브 (wafer probing) 및 처리를 자동화할 수 있습니다. 이 장비는 또한 확장성과 확장성을 제공하므로, 사용자는 보드, I/O 카드, 기타 구성 요소를 손쉽게 추가하여 하드웨어 또는 소프트웨어를 변경하지 않고도 테스트 기능의 범위를 확장할 수 있습니다. J750 은 항공 우주, 방위, 자동차, 통신 등 여러 애플리케이션에 적합합니다. 이 시스템은 지능형 메모리 (Intelligent Memory) 와 마이크로컨트롤러 (Microcontroller) 를 지원하며, 점점 더 복잡해지는 테스트 요구를 충족하는 유연한 타이밍, 설정, 분석 기능도 제공합니다. 전반적으로, J 750 장치는 오늘날의 복잡한 대용량 전자 제조업체의 요구를 충족시키기 위해 설계된 고급, 고성능 ATE 솔루션입니다. 더욱 빠르고 정확한 테스트 결과를 제공하는 한편, 유지 관리 비용을 절감하고, 생산성을 높일 수 있습니다. 이 시스템의 유연한 아키텍처와 강력한 소프트웨어 (software) 는 다양한 테스트 어플리케이션에 이상적인 선택입니다.
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