판매용 중고 TERADYNE J750 #9184232

테라 딘 J750 (TERADYNE J750) 은 전자 제품 제조 업계의 성능 및 제품 테스트 요구의 증가를 해결하기 위해 제작된 최종 테스트 장비입니다. 이 최첨단 테스트 시스템을 사용하면 테스트 비용을 최소화하면서 제조 처리량을 극대화할 수 있습니다. 이 장치는 대용량 생산 환경의 요구를 충족시키기 위해 제작되었습니다. 최신 고속 테스트 (High Speed Test) 기술을 활용하여 한 시스템에서 여러 디바이스 유형을 테스트할 수 있습니다. TERADYNE J 750에는 벡터리스 (vectorless) 테스트 소프트웨어 지원을 포함한 유연한 테스트 모듈 어레이가 장착되어 있습니다. 이를 통해 사용자는 메모리, 아날로그, 혼합 신호 장치 등 다양한 반도체 장치를 테스트할 수 있습니다. 모든 "모듈 '은 매우 구성 가능하며, 그 도구 는 광범위 한" 디바이스' 유형 에 적응 할 수 있다. 에셋의 테스트 플랜 저작 도구는 각 장치 유형에 대한 테스트 개발을 지원합니다. 사용자는 정교한 프로그래밍 기능과 실시간 장치 분석의 혜택을 누릴 수 있습니다. 테스트 보고서는 컴파일된 보고서 (compiled reports) 에서 생성할 수 있으며, 모델에서 테스트된 모든 디바이스에 대한 자세한 데이터 및 그래픽 분석을 제공합니다. J750 은 사용이 간편한 운영자 인터페이스를 통해 테스트 자동화 (test automation), 결과 로깅 (result logging), 인터페이스 통신 옵션 등 모든 장비의 기능을 사용자가 제어할 수 있습니다. 또한 테스트 성능 및 데이터 입수를 실시간으로 모니터링할 수 있습니다. 온라인 도움말을 통해 사용자는 기술 정보 (Technical Information) 와 자습서 (Tutorial) 를 신속하게 액세스하여 장치의 기능을 극대화할 수 있습니다. 또한 J 750은 최대 안전 측정, ESD 위험 최소화, 고속 I/O 기능을 제공하도록 설계되었습니다. 또한 고급 (Advanced) 설계를 통해 혼합 접촉 유형과 서로 다른 상호 연결을 가진 보드의 안정적인 테스트를 할 수 있습니다. 이 시스템은 대부분의 주요 CAD 형식과 호환되므로 설계 호환성을 보장합니다. 개방형 아키텍처로 인해, TERADYNE J750 은 향후 필요할 수 있는 모든 소프트웨어/하드웨어 변경을 수용할 수 있습니다. 또한 TERADYNE J 750은 유지 보수 및 확장이 용이하도록 설계되었습니다. 테스트 요구 사항에 맞게 도구를 재구성할 수 있습니다. 멀티레벨 (Multi-Level) 테스트 기능과 빠른 데이터 획득 속도를 자랑하는 J750 은 보다 정확한 테스트 성능을 제공하도록 설계되었습니다. 간단히 말해서, J 750 최종 테스트 자산은 모든 전자 제조 요구 사항에 적합한 비용 효율적인 고성능 솔루션입니다.