판매용 중고 TERADYNE J750 #9184050

TERADYNE J750은 미국의 자동 테스트 장비 인 TERADYNE 제조 공급 업체가 개발 한 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 트랜지스터, 옵토 전자 장치, 디지털 집적 회로 (Digital Integrated Circuit) 및 현장 테스트 및 울트라 세이프 (Ultra Safe) 응용 프로그램의 기타 구성 요소에 대한 고속 생산 테스트를 위해 설계되었습니다. 1990 년대 초에 시작된 TERADYNE J 750은 고속, 멀티 사이트 병렬 테스트를 갖춘 업계 최초의 제품 테스트 장치였습니다. J750은 최첨단, 신뢰성, 견고한 아키텍처를 기반으로 합니다. 높은 처리량과 정확하고 정확한 고속 테스트 기능을 갖추고 있습니다. 이 테스트는 또한 업계에서 가장 빠른 출시 시간 (time-to-market) 과 가장 빠른 장애 감지 (time-to-failure) 를 제공하도록 설계되었습니다. J 750의 고성능 SoC (Machine-on-Chip) 장치 테스트 기능은 탁월한 처리량과 유연성을 제공하여 고성능 및 높은 신뢰성 장치를 테스트할 수 있습니다. 이 도구의 핵심은 강력한 고성능 프로세서인 CPCU (Configurable Processor Control Unit) 입니다. 이 장치는 테스트 프로세스를 관리하며, 테라디네 (TERADYNE) 의 검증된 TCCU 소프트웨어를 기반으로 하여 자산을 유연하고 안정적으로 관리할 수 있습니다. TERADYNE J750에는 정교한 테스트 프로그램 설계 및 디버깅이 가능한 혁신적인 ATE (Automatic Test Equipment) Design Workflow도 있습니다. 이 기능을 통해 엔지니어는 테스트 프로그램과 설계 주기 시간을 빠르게 개발, 수정, 디버깅할 수 있으므로 생산량을 크게 향상시킬 수 있습니다. TERADYNE J 750은 또한 테스트 프로그램 설계 및 테스트를 위해 직관적 인 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 를 제공합니다. 이 GUI 를 통해 엔지니어는 테스트 모델과 테스트 프로그램 구조를 신속하게 파악하여 설계/디버깅 프로세스를 더욱 간편하고, 빠르고, 효율적으로 수행할 수 있습니다. 이 회사는 또한 다양한 추가 (add-on) 모듈 및 기타 테스트 리소스 구성 요소를 제공하여 테스트 장비를 더욱 향상시키고 사용자 정의합니다. 이 시스템은 다양한 핀, A/D 변환기, 오실로스코프, 맞춤형 보드 및 기타 기능을 제공하여 최적의 테스트 결과를 제공합니다. 또한 여러 타사 IDE (Integrated Development Environment) 및 테스트 제품군을 사용하여 어플리케이션의 신속한 개발, 테스트, 배포를 수행할 수 있습니다. 따라서, J750 은 다양한 기능을 갖춘 강력한 성능 지향 유닛을 제공하여, 가장 까다로운 애플리케이션에서 빠르고, 오래 지속되고, 신뢰할 수 있는 운영 테스트를 위한 완벽한 선택입니다.