판매용 중고 TERADYNE J750 #9167876

TERADYNE J750은 반도체 다이 (Die), 집적 회로 (Integrated Circuit), 시스템 레벨 전자 어셈블리 (System-Level Electronic Assembly) 와 같은 전자 산업 내 다양한 부품을 검증하는 데 사용되는 최종 테스트 장비입니다. 이 장치는 설계자가 빠른 속도로 파라 메트릭 (parametric), 전기 (electrical), 물리적 결함 (physical defect) 등 다양한 유형의 결함을 감지하고 진단할 수 있도록 도와줍니다. TERADYNE J 750은 엔지니어가 견고하고, 안정적이며, 바보 같은 테스트 성능을 얻을 수 있도록 지원하는 독특한 테스트 기술 조합을 사용합니다. 하드웨어 구현 측면에서 J750은 여러 가지 주요 구성 요소로 구성되어 있습니다. 여기에는 기계의 동작을 제어하는 CPU (Central Processing Unit), 공구 슬롯이 있는 테스터 바디 (Tester Body) 및 대상 장치와 인터페이스하는 데 사용되는 테스트 카드 (Test Card) 가 포함됩니다. 테스트 카드는 디지털/CPLD/FPGA/ASIC, 아날로그/MEMS/RF 및 광학/X-ray/열을 포함한 다양한 유형으로 제공됩니다. J 750은 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 와 직관적 인 프로그래밍 환경을 갖춘 GgaFlex ATE 소프트웨어의 도움으로 프로그래밍됩니다. 이 소프트웨어는 고급 이벤트 제어 (event control) 를 통해 정교한 자동 테스트 프로그램을 생성할 수 있는 시퀀서, 루퍼, 루틴으로 구성됩니다. 또한, 소프트웨어는 유연한 테스트 프로그래밍 및 디버깅을 가능하게 하는 광범위한 명령/기능 라이브러리를 제공합니다. 테라 딘 J750 (TERADYNE J750) 의 문제를 정확하게 감지하고 진단하는 기능은 다양한 유형의 테스트 기기 및 측정 옵션을 통해 가능합니다. 여기에는 DC, AC 및 Noise 측정과 같은 패라메트릭 테스트와 고속 패턴 획득 및 기능 파형 샘플링이 포함됩니다. 또한 TERADYNE J 750은 Boundary Scan ATPG, JTAG/Boundary Scan 및 In-Tool Programmability와 같은 다양한 고급 진단 도구를 지원합니다. 마지막으로 J750 자산도 사용자 정의가 가능합니다. MIL-STD 테스트 표준, 구성 가능한 핸들러 옵션, 열 스트레스 기구 (thermal stress fixture) 등 다양한 통합 전원 공급 장치, 논리 분석기, 파형 생성기 (waveform generator) 등의 추가 기능을 통해 고객의 요구에 맞게 조정할 수 있습니다. J 750에는 또한 강력한 TERADYNE TEPL (Easy Programming Language) 이 포함되어 있으며, 고객의 기존 테스트 소프트웨어 및 자산을 통합 할 수있는 유연한 플러그 앤 플레이 인터페이스를 제공합니다. 전반적으로, TERADYNE J750 은 전자 제품 조립 및 부품 검증 업계의 광범위한 애플리케이션에 적합한 고급, 고급 테스트 모델입니다. 테스트 기구 (Test Instruments) 와 다양한 측정 옵션 (Measurement Option) 의 조합으로 광범위한 결함을 정확하게 감지하고 진단하는 데 적합하며, 구성 가능한 테스트 옵션의 유연성으로 대부분의 고객 요구에 쉽게 적응할 수 있습니다.