판매용 중고 TERADYNE J750 #9167808

TERADYNE J750 Final Test (최종 테스트) 장비는 혁신적인 네트워크 아키텍처를 활용하여 비용 효율적인 패키지에서 높은 처리량과 광범위한 데이터 관리를 제공하는 고급 고성능 테스트 플랫폼입니다. System-on-chip, memory 및 Mixed-Signal 어플리케이션과 같은 고성능 웨이퍼 레벨, 기능 및 최종 장치 테스트 어플리케이션을 위해 설계되었습니다. 더 큰 테스트 적용 범위와 높은 장치 수율을 제공하기 위해 개발된 TERADYNE J 750은 최신 테스트 접근 방식을 확장성, 다용도, 내결함성 (fault-tolerant) 플랫폼과 결합합니다. 테스트 유닛은 확장 가능한 네트워크 아키텍처를 통합하여, 사용자가 처리량이 비정형적으로 많은 대용량 데이터를 액세스, 저장, 관리할 수 있게 해 줍니다. 높은 채널 병렬 처리, 최첨단 테스터 속도, 대용량 채널 수를 허용함으로써 테스트 프로세스의 처리량을 증가시키는 데 도움이 됩니다 (영문). 또한, 시스템의 분산 스위치 (Distributed Switch) 아키텍처를 통해 사용자는 테스트 비용을 절감하고 보다 통제하기 쉬운 테스트 프로그램을 만들 수 있습니다. 또한 J750 은 완벽하게 통합된 사용자 친화적 소프트웨어 인터페이스를 통해 테스터 설치 (tester setup) 를 간소화합니다. 즉, 효율적인 프로그래밍과 결함 진단을 가능하게 하며, 테스트 중인 디바이스를 쉽고 빠르게 디버그할 수 있습니다. 또한, 고급 데이터 분석 (data analysis) 기능을 통해 사용자는 디바이스의 미묘한 결함을 감지하고 해당 결함에 대한 테스트를 조정할 수 있습니다. 이 툴에는 다양한 표준 (standard) 및 고급 (advanced) 테스트 기술이 탑재되어 있어 높은 성능을 자랑하는 테스트 플랫폼입니다. 다량의 기술에는 시간 인식 정전 용량 측정이 포함되며, 이는 복잡한 아날로그 및 혼합 신호 장치의 높은 정확도를 측정합니다. 또한 고급 고전압 기술이 포함되어 있어 고전압 전원 장치에 대한 광범위한 테스트가 가능합니다. 또한 J 750 은 광범위한 온보드 데이터 스토리지를 보유하고 있어 테스트 결과를 저장하고 재생할 수 있습니다. 이를 통해 심층적인 프로세스 모니터링, 데이터 상관 관계 분석, 진단 분석 등을 수행할 수 있습니다. 이 자산은 TERADYNE 테스트 엔지니어 (Team of Test Engineer) 의 지원을 받으며, 모든 사용자에게 귀중한 리소스 역할을하는 맞춤형 테스트 응용 프로그램에 대한 추가 지원을 제공합니다. 결론적으로, TERADYNE J750 Final Test 모델은 다재다능하고 강력한 테스트 플랫폼으로, 비용 효율적인 패키지에서 최대 수준의 테스트 적용 범위 및 장치 생산량을 제공하도록 설계되었습니다. 혁신적인 네트워크 아키텍처, 고급 테스트 기술, 사용자 친화적 인 소프트웨어 및 온보드 데이터 스토리지가 특징입니다. 따라서 wafer-level 에서 functional & final device test 에 이르기까지 다양한 테스트 애플리케이션에 이상적인 장비입니다.