판매용 중고 TERADYNE J750 #9167072

TERADYNE J750 Final Test 장비는 차세대 테스트 및 검사 플랫폼으로, 복잡한 반도체 장치를 위한 탁월한 테스트 적용 범위를 제공하고 장치 생산량을 향상시킵니다. 오늘날의 소형 폼 팩터 패키지 (small form factor package) 를 테스트하는 데 이상적인 작은 설치 공간을 갖춘 확장 가능한 고출력 테스터입니다. 테라 딘 J 750 (TERADYNE J 750) 은 광범위한 어플리케이션을 테스트하는 데 적합하며, 고핀 카운트 반도체 장치를 통해 저핀 수를 테스트하기 위해 예측 가능한 낮은 위험 솔루션을 제공합니다. 이 시스템은 최적화된 아키텍처를 활용하여 높은 테스트 정확도, 낮은 테스트 비용, 증가된 테스트 범위 (test coverage) 를 달성하여 디바이스 수율을 증가시킵니다. J750은 하이 핀 카운트 장치의 테스트 패턴을 빠르게 처리하기위한 고속 DSP (Digital Signal Processor) 칩셋을 갖추고 있습니다. 이 장치는 실시간 테스트 시퀀싱 (sequencing) 및 제어 시스템 (control machine) 을 사용하여 고급 테스트 알고리즘과 강력한 진단을 지원하므로 최신 테스트 혁신을 활용할 수 있습니다. 고급 닫힌 루프 제어 및 측정 도구를 통해 빠르고 정확한 테스트 결과를 얻을 수 있습니다. J 750 은 테스트 아키텍처 (Tester Architecture) 에 맞춤형 테스트 솔루션을 쉽게 통합할 수 있는 유연성을 제공하며, 이를 통해 테스트 범위를 더욱 확대할 수 있습니다. 직관적이고 사용하기 쉬운 GUI (Graphical User Interface) 를 통해 디버깅 및 문제 해결 프로세스를 간소화하여 생산성을 높일 수 있습니다. 또한, 다양한 맞춤형 장치 드라이버 (custom device drivers) 라이브러리를 자산에 사용할 수 있으며, 이를 통해 테스트 모델에 빠르고 원활하게 장치를 통합할 수 있습니다. TERADYNE J750 Final Test Equipment는 강력하고 안정적이며 비용 효율적인 테스트 및 검사 솔루션입니다. 고급 아키텍처 (Advanced Architecture) 와 기능을 통해 오늘날 매우 복잡한 반도체 디바이스를 테스트할 수 있는 이상적인 시스템으로, 위험 요소를 최소화하면서 디바이스 생산량을 극대화할 수 있습니다.