판매용 중고 TERADYNE J750 #9029078

테라 딘 J750 (TERADYNE J750) 은 최신 전자 기술에서 제조업체의 요구를 충족하도록 설계된 고급, 모든 기능을 갖춘 회로 내 (in-circuit) 및 기능 테스트 장비입니다. 이 시스템은 다양한 입력 및 출력 핀이 있는 고밀도 (High-Density) 보드의 효율적이고 정확한 테스트를 지원합니다. 또한 TERADYNE J 750은 단단한 폼 팩터 (form factor) 및 빠른 속도로 높은 테스트 정확도로 구성 요소를 테스트 할 수 있습니다. J750 은 중요한 노드에 대한 고속 테스트를 제공하여 대용량 운영 환경에 적합합니다. 고속 교환 기능을 갖춘 고해상도 512MB 메모리를 장착하여, 사용자에게 최고의 테스트 유연성을 제공합니다. 현재 출력은 채널당 32mA 등급으로, IGBT, 전원 트랜지스터, SCR 등의 고출력 장치를 테스트하는 데 적합합니다. J 750 장치에는 최신 회로 및 기능 테스트 기술이 장착되어 있습니다. 또한, 빠른 부팅 기능과 향상된 메모리 성능을 갖춘 개정된 내부 아키텍처를 갖추고 있습니다. 이 기계는 또한 높은 정확도 테스트를 위해 빠른 교정 기능을 갖추고 있으며, 산업 응용 프로그램에 적합합니다. TERADYNE J750 도구는 또한 향상된 액세스 및 지원을위한 3 축 표준 평면도를 갖추고 있습니다. 고집적 프로세싱의 요구를 충족시킬 수 있습니다. 또한 고급 (Advanced) 격리 기술을 통해 하드웨어 및 운영 비용을 절감할 수 있습니다. 최고 수준의 테스트 정확성을 보장하기 위해 TERADYNE J 750 에셋에는 강력하고 강력한 데이터 분석 패키지가 있습니다. 이 모델은 고해상도 결함 감지 및 로컬라이제이션 기능을 제공하여 신속한 문제 파악 및 문제 해결을 지원합니다. 이 장비는 또한 향상된 통계 수용 수준 (statistical acceptance level) 제어를 통해 제품의 성능과 품질 제어를 보장합니다. 또한 J750에는 고급 프로그래밍 기능과 원격 프로그래밍이 장착되어 있습니다. 이를 통해 사용자는 로컬 (local) 또는 원격 (remote) 터미널에서 동일한 테스트 프로그램에 액세스할 수 있습니다. 따라서 오류 처리, 문제 해결 및 지원 비용을 최소화할 수 있습니다. J 750은 최고의 테스트 정확성과 유연성을 제공하도록 설계되었습니다. 회로 내 (in-circuit) 및 기능 테스트 기능, 평면도 (floor plan), 데이터 분석 패키지, 향상된 통계 수용 수준 제어, 프로그래밍성 및 원격 프로그래밍과 같은 주요 기능은 모두 안정적이고 정확한 테스트 결과를 제공하는 기능에 기여합니다. 이를 통해 최신 기술 솔루션에 이상적인 선택이 됩니다.