판매용 중고 TERADYNE J750 HD #9392833

TERADYNE J750 HD는 혼합 신호 및 복잡한 디지털 설계에 이상적인 고밀도, 전체 장비 테스터입니다. NAND, NOR, SPI (Serial Peripheral Interface) 와 같은 기존 기술과 DDR2/3, USB3.0, MIPI 및 SAS와 같은 최신 응용 프로그램을 포함하여 수백 개의 장치 및 디지털 응용 프로그램에 적합합니다. 특허를 받은 TERADYNE 멀티 사이트 기술을 사용하는 J750 HD는 비품당 업계 최고의 밀도를 제공합니다. 또한 뛰어난 멀티코어 성능과 업계 최고의 테스트 시간과 충실도를 제공합니다. TERADYNE J750 HD는 이중 볼륨 (Dual Volume), 부분/그리드 볼륨 (Partial/Grid Volume), 메모리/프로세서 (Memory/Processor) 와 같은 다양한 I/O 체계를 지원하도록 구성하여 다중 솔루션과 빠른 출시 시간을 지원합니다. 이 시스템은 최대 72 개의 디지털 I/O 핀, 전용 디지털 BIST 패턴 및 자동 진단 bist 옵션을 지원하는 최대 12 개의 디지털 사이트를 지원합니다. 또한 최대 64 개의 아날로그 및 디지털 I/O 핀과 최대 78 개의 BIST 리소스를 지원하는 12 개의 혼합 신호 사이트로 확장 할 수 있습니다. 테스트 설계를 효율적으로 구조화하기 위해 장애 분해도 지원됩니다. 또한 J750 HD는 TestExec SL 시스템 수준 테스트 임원을 통해 업계 최고의 최신 스위칭, 테스트 자동화 소프트웨어 및 향상된 처리량을 제공합니다. 또한 단일 플랫폼에서 동시 팀 개발, 디버깅 (debugging), 테스트 프로그램 실행 (test program execution) 을 통해 높은 유연성을 제공하는 개발 환경도 포함되어 있습니다. TERADYNE J750 HD는 수많은 진단 테스트 및 결과 검토 (Results review) 기능과 수천 개의 내장 테스트 루틴을 갖춘 자체 테스트 라이브러리를 지원합니다. 이 자산은 또한 장치 자체 테스트 기능을 지원하므로 테스트 시간이 단축되고 테스트 범위가 향상됩니다. 안정성과 가동 시간을 위해, J750 HD에는 전자 보드, 커넥터, 차폐 케이블 등 다양한 산업용 부품이 장착되어 있습니다. 이 모델은 또한 Core Platform Module (코어 플랫폼 모듈) 을 지원하며, 이를 통해 고객은 보다 뛰어난 제어 능력과 유연성을 갖춘 특정 구성 요소를 업그레이드할 수 있습니다. 전반적으로 TERADYNE J750 HD는 수천 개의 장치 및 디지털 어플리케이션에 비해 뛰어난 밀도, 성능, 유연성을 제공하는 고급형 전체 장비 테스터입니다. 신뢰할 수 있고, 처리량이 높고, 비용 효율적인 솔루션을 원하는 기업에 적합한 솔루션입니다.