판매용 중고 TERADYNE J750 HD #9373187

TERADYNE J750 HD
ID: 9373187
빈티지: 2016
Tester LCD PIB Board (2) HSD800: 256 Channels HD Size (M): 1000 CUB HDVIS 2016 vintage.
TERADYNE J750 HD는 반도체 제조업체를위한 업계 최고의 최종 테스트 솔루션입니다. 이 장비는 다양한 고성능 (HPT) 기능 테스트 및 진단 기능을 제공하며, 제조업체는 품질 표준을 유지하면서 다양한 애플리케이션에 대한 테스트 (Testing) 를 신속하게 구축하고 구성할 수 있습니다. 이 시스템은 고밀도, 컴팩트한 설계를 활용하여 랙당 테스트 용량을 극대화하고, 생산 장비의 설치 공간을 늘립니다. 최대 1688 채널의 고속 디지털 테스트, 876 채널의 병렬, 아날로그 테스트를 호스팅할 수 있으며, 구성 가능한 모듈 깊이 및 종료 (termination) 옵션을 통해 여러 장치를 지원할 수 있습니다. 고급 시뮬레이션 (Simulation) 및 검증 (Validation) 기술은 완벽하게 통합되며, 장애 적용 범위의 정확성을 높이고 잘못된 오류를 줄일 수 있도록 설계된 광범위한 기능을 갖추고 있습니다. 새로운 장치와 프로세스를 검증할 때 설치 시간과 비용 (Settup Time and Expense) 을 최소화하는 다양한 유연한 테스트 프로그램 옵션을 제공합니다 (영문). 고속 디지털, 루프의 하드웨어, 아날로그 (analog), 알고리즘 (algorithmic) 및 메모리 테스트 (memory testing) 를 통해 장치 기능 및 프로파일 특성의 전체 범위를 다룰 수 있습니다. 임베디드 시스템 관리 (Embedded Systems Management) 를 통해 장비에 대한 완벽한 원격 제어, 모니터링, 분석이 가능하며, 고급 네트워킹 기능을 통해 테스트 결과를 효율적으로 전달하고, 시스템을 실시간으로 제어할 수 있습니다. 내장 보정 조정, 자동화된 자산 추적, 테스트 프로그램 관리의 중앙 집중화, 원격 진단, 도구 전체 프로파일 최적화 등의 기능을 통해 제조업체는 위험 및 불확실성을 줄일 수 있습니다. J750 HD는 안정적이고, 강력하며, 사용자에게 친숙한 테스트 자산으로, 최고 수준의 수익률 최적화 및 출시 시간을 지원합니다. 이 모델의 직관적인 진단 기능 (Diagnostic Capability), 고속 테스트 기능 (High-Speed Test Capability) 및 뛰어난 확장성을 통해 제조업체는 정확성과 신뢰도를 높여 신뢰할 수 있는 제품을 제공할 수 있습니다.
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