판매용 중고 TERADYNE J750 HD #9373186

TERADYNE J750 HD는 보드 제품의 고속, 최적화 된 매개변수 테스트를 위해 설계된 최종 테스트 장비입니다. 기본 기능 테스트, 회로 내 (in-circuit) 테스트 및 온도 챔버 테스트를 수행하여 광범위한 제품 복잡성 및 생산 볼륨을 다룹니다. 고급 하드웨어 아키텍처와 높은 처리량을 자랑하는 J750 HD는 테스트 실행을 간소화하고, 출시 시간을 줄이고, 테스트 시간 해결을 개선하도록 설계되었습니다. 이 시스템의 고밀도 다양성 (High-Density Versatiability) 은 구성 요소, 보드, 시스템 등 다양한 제품을 테스트하는 데 도움이 됩니다. 통합 주소 지정, opto-coupling 및 flex-circuit 테스트 기능을 통해 TERADYNE J750 HD는 더 작은 구성 요소 및 보드를 테스트하고 보드에서 기능 테스트를 수행 할 수 있습니다. 또한 고밀도 기능을 통해 프로세서, 마이크로컨트롤러 등의 고핀 수 (High Pin Count) 장치를 테스트할 수 있습니다. J750 HD는 또한 극한 온도에서 테스트하기위한 온도 챔버를 갖추고 있습니다. TERADYNE J750 HD는 강력한 eServices 소프트웨어 플랫폼을 활용하여 안전하고 자동화된 테스트 구성 및 매개변수 (parameter) 설정을 통해 다양한 설계/제조 시스템과 손쉽게 통합할 수 있습니다. 이 장치는 eServices 플랫폼을 활용하여 테스트 사양 (test specs) 과 운영 매개변수 (operational parameter) 를 포함한 모든 데이터를 제어 및 모니터링할 수 있습니다. 즉, 정보의 정확성과 신뢰성을 보장하고 전체 테스트 프로세스를 향상시킵니다. J750 HD는 견고하고 유연하며 복잡한 설계를 위한 테스트 솔루션을 제공합니다. 이 기계는 복수의 자원을 통해 다양한 유형의 테스트 (예: 집적 회로 내 (in-circuit) 테스트, 회로 내 (in-circuit) 테스트) 에 사용될 수 있습니다. 이 소프트웨어는 대용량 운영 프로세스의 요구 사항을 충족할 수 있도록 구성/업그레이드할 수 있습니다 (영문). 전체적으로 TERADYNE J750 HD는 대용량 생산 분야에 대한 고속 감지 및 테스트 시간 해상도를 제공하도록 설계되었습니다. 강력한 하드웨어 아키텍처와 통합 소프트웨어 (Integrated Software) 를 통해 강력한 기능과 다양한 기능을 제공합니다. 이 툴은 직관적인 작동과 확장성 (Scalability) 으로 두드러지며, 다양한 환경에서 매우 다양한 제품을 테스트할 수 있습니다. J750 HD는 모든 생산 환경에 적합한 자산입니다.