판매용 중고 TERADYNE J750 EX #9311622

TERADYNE J750 EX는 고급 전자 장치의 "최종 테스트" 를 위해 설계된 고성능 자동 테스트 장비입니다. TERADYNE 업계에서 검증된 유연한 J750 플랫폼을 기반으로합니다. 이 시스템은 소형 설치 공간에서 속도, 정밀도, 다용도, 신뢰성의 조합을 제공합니다. 광범위한 반도체 및 기타 전자 장치 제조업체의 요구 사항을 충족하도록 설계된 TERADYNE J750EX는 대용량 생산 테스트 및 DRAM, 플래시 메모리, ROM, MCU, CPLD, discretes 및 micro-controller. 특허를 획득한 레이저 기반 아키텍처를 활용하면 확장 가능한 멀티 포트 머신 (multipport machine) 구성과 여러 데이터 버스 (data bus) 를 사용합니다. J 750 EX는 업계에서 가장 빠른 Dry Wafer 처리량을 갖춘 고속 기능을 제공합니다. 고급 2 피스 (2 피스) 테스트 모듈 설계는 장치 양쪽에서 최대 400 핀의 고밀도 핀 밀도를 동시에 허용하며, 통합 고전압 설계는 여러 전압 수준을 동시에 지원할 수 있는 유연성을 갖습니다. 이 도구에는 MicroScope 변조 전압 네트워크, 마이크로파 주파수 테스트 모듈, 플렉스 프로브, 엔지니어링 테스트 모듈 시스템 및 다양한 테스트 어댑터와 같은 광범위한 통합 모듈이 포함됩니다. 또한 NCC (Advanced Network CommandCenter) 소프트웨어, ProCOM 데이터베이스 지원 및 다양한 표준화 된 프로그래밍 언어를 통한 원격 프로그래밍을 포함하여 광범위한 프로그래밍 옵션을 제공합니다. J750EX에는 근본 원인 자동 문제 분석 및 복구를 위한 강력한 진단 기능이 포함되어 있습니다. 독자적인 SCRIBE 소프트웨어 제품군은 종합적인 진단 유틸리티 (diagnostics) 진단 및 실시간 그래픽 오류 감지 및 분석을 제공합니다. 통합 데이터 분석 패키지 (Integrated Data Analysis Package) 를 통해 성능 데이터에 대한 통계적 분석 및 보고를 통해 프로세스 개선을 수행할 수 있습니다. J750 EX (J750 EX) 는 유연하고, 구성 가능한 자산 아키텍처를 제공하므로 고객의 요구 사항에 맞게 손쉽게 맞춤형으로 구성할 수 있으며, 오늘날 까다로운 테스트 요구 사항에 적합한 솔루션입니다. 자동화된 공구 (tooling) 기능이 추가됨으로써 멀티축, 멀티프로브 (multi-probe) 자동차 및 의료 기기 테스트에 이상적인 솔루션이 됩니다. 이 모델은 탁월한 기능의 조합을 제공하여 테스트 시스템 (Test System) 의 선두 주자입니다. 고급 기술, 장비 성능, 진단, 프로그래밍 및 맞춤형 아키텍처의 조합으로 TERADYNE J 750 EX는 전자 제품 제조업체에 이상적인 시스템입니다.