판매용 중고 TERADYNE J750 EX #9279659

TERADYNE J750 EX는 높은 복잡도 장치에 고급 테스트 및 분석 기능을 제공하기 위해 설계된 최종 테스트 장비입니다. 전체 EOL (End-Of-Line) 테스트 시스템으로, 디바이스 공급업체와 운영 환경의 요구를 충족하도록 설계되었습니다. TERADYNE J750EX는 고속 스캔 및 경계 스캔 기능을 사용하여 빠르고 효율적인 테스트를 제공하도록 설계되었습니다. 이 장치는 모듈성 (modularity) 을 염두에 두고 설계되었으며, 다양한 운영 실행의 요구 사항을 충족하도록 확장할 수 있습니다. 최대 8 개의 스캔 컨트롤러로 구성할 수 있으며, 고속 스캔, 경계 스캔 테스트, ATE 인터페이스 및 기타 애플리케이션별 주변 장치 I/O (예: 비전 시스템, 대용량 스토리지 장치) 에 사용할 수 있습니다. J 750 EX는 또한 혼합 기술 장치를 포함한 복잡한 장치를 테스트하기 위해 온보드 인텔리전스로 설계되었습니다. 이 작업은 전문 소프트웨어 및 하드웨어 솔루션을 사용하여 수행됩니다. 병렬 아키텍처 구성에서도 TERADYNE J 750 EX 를 사용할 수 있으므로 여러 테스트를 동시에 수행할 수 있습니다. 이 시스템은 네트워크, 웹 기반 서비스, 원격 제어, 모니터링 기능 등 외부 기기와의 상호 작용을 위한 포괄적인 통신 인터페이스 세트를 제공합니다. 또한 다양한 트리거 (trigger) 및 제어 옵션을 제공하여 다른 기기와 인터페이스합니다. J750EX는 또한 테스트 프로그램 개발을위한 고급 소프트웨어 (Advanced Software) 와 어플리케이션별 테스트 프로그램의 포괄적 인 라이브러리를 제공합니다. 이 도구는 초당 최대 1 억 건의 스캔 속도와 복잡한 보드 및 부품 믹스 (part mix) 유형의 적용 범위를 갖춘 광범위한 테스트 범위를 갖추고 있습니다. 고정밀도 장애 감지 (fault detection) 기능이 있으며, 일반적인 결함을 파악하고 테스트 시간을 단축할 수 있는 고급 결함 인식 알고리즘이 있습니다. 이 자산은 쉽게 구현하고 유지 관리할 수 있도록 설계되었습니다. 실시간 테스트 제어 (Test Control) 및 분석, 그래픽 결과 디스플레이 (Graphical Result Display) 및 데이터 분석 툴에 대한 액세스를 제공하는 GUI (Graphical User Interface) 가 제공됩니다. 이 모델은 또한 사용자 정의 가능하며, 패턴 생성, 보드 설정, 매개변수, 실패 분석, 보고 기능의 통합 및 구성을 지원합니다. 요약하자면, J750 EX 는 높은 복잡성 장치, 포괄적인 테스트 범위, 고급 소프트웨어/하드웨어 솔루션, 간편한 구축/유지 보수 (Implementation/Maintenance) 를 위한 정교한 EX (End-of-Line) 테스트 장비입니다. 디바이스 공급업체 및 운영 환경에 이상적인 솔루션입니다.