판매용 중고 TERADYNE J750 EX #9252389

ID: 9252389
빈티지: 2004
Testers (8) HSD200 (4) DPS 2004 vintage.
TERADYNE J750 EX 는 전자제품의 테스트 및 생산 프로세스를 간소화하기 위해 설계된 완전 자동화, 고출력 최종 테스트 장비입니다. 최대 테스트 헤드 용량이 6 개의 업계 표준 TAP (Test Access Points) 인 TERADYNE J750EX는 매우 효율적인 패키지에서 시간당 최대 720,000 개의 테스트 포인트를 제공합니다. J 750 EX 하드웨어 시스템은 여러 가지 개별 구성 요소로 구성됩니다. 첫 번째는 다중 레벨 섀시 유닛으로, 장치 구성 요소를 수용하도록 설계되었습니다. 섀시에는 주변 기기에 전원을 공급하는 데 사용되는 저전압, 고출력 (High-Power) 공급 장치와 초저전력 (UHV) 전원 공급 장치 (UHV) 가 포함되어 있습니다. 다음은 테스트 어댑터, 수정용 장비, 고속 데이터 획득 인터페이스를 갖춘 모듈식 플랫폼 (Test Platform module) 입니다. 마지막으로, 기계에는 모든 자산의 테스트 활동을 제어하는 MTC (Multi-Test Controller) 도구가 포함되어 있습니다. J750EX 소프트웨어 패키지는 효율적인 데이터 수집 및 분석을 위해 설계되었습니다. 제어 플랫폼은 강력한 GUI (Graphical User Interface) 와 테스트 요구를 충족하는 다양한 자동 테스트 툴을 갖추고 있습니다. 또한, 이 소프트웨어는 다른 TERADYNE 시스템과 상호 접속할 수 있는 기능을 제공하여 엔지니어가 모든 위치에서 중요한 데이터를 액세스할 수 있도록 합니다. 이 모델은 요구 사항에 따라 다양한 테스트를 수행 할 수 있습니다. 또한 "burn-in" 테스트뿐만 아니라, 회로 내 (in-circuit) 테스트, 경계 스캔 테스트, 기능 테스트 등을 수행할 수 있습니다. J750 EX는 또한 최대 8 개의 디지털 라인과 24 개의 아날로그 라인 (analog line) 테스트 포트 기능을 제공하여 여러 테스트 프로토콜과의 유연성과 호환성을 제공합니다. 전반적으로 TERADYNE J 750 EX는 산업 및 가전 제품 모두에서 생산 수준 최종 테스트를위한 강력한 완전 통합 테스트 장비를 나타냅니다. 이 시스템은 전자 제품의 품질과 성능을 빠르고 효과적으로 확인할 수 있으며, 모듈식 설계 (modular design) 와 가변 테스트 프로토콜 (variable test protocol) 은 매우 비용 효율적이고 신뢰할 수 있는 솔루션입니다.
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