판매용 중고 TERADYNE J750 EX #9238310

TERADYNE J750 EX는 PC, 태블릿, 휴대전화 등 다양한 전자 기기를 테스트할 수 있는 고성능 최종 테스트 플랫폼입니다. 혁신적인 설계를 통해 탁월한 테스트 범위, 신뢰성 및 속도를 제공합니다. TERADYNE J750EX는 많은 유연하고 강력한 기능을 포함하는 TERADYNE 업계 최고의 테스트 플랫폼을 기반으로합니다. 이 장비는 고급 하드웨어, 소프트웨어, 테스트 알고리즘을 사용하여 테스트 적용 범위와 처리량을 최대화합니다. 또한 우수한 장치 원격 메트리 (telemetry) 및 분석을 위해 다양한 테스트 핸들러 및 인터페이스와 통합됩니다. J 750 EX 는 특허를 획득한 FlexTetrix 시스템을 활용하여 대용량 또는 소규모 디바이스에 대한 테스트 구조를 신속하게 구성하고 최적화할 수 있습니다. 따라서 유연성과 정확도가 높은 복잡한 다기능 보드를 테스트할 수 있습니다. 이것은 독점 TERADYNE TestFlex 소프트웨어를 사용하여 더욱 향상되었으며, 이는 50,000 개가 넘는 테스트 라이브러리를 제공합니다. J750 EX 는 다양한 하드웨어에서 동시에 여러 장치를 테스트할 수 있으며, 병렬 테스트 아키텍처 (Parallel Test Architecture) 를 통해 테스트를 동시에 처리하여 처리량을 크게 향상시킵니다. 이 플랫폼은 최대 10V 의 다양한 테스트 전압 기능을 갖추고 있으며, 다중 세그먼트 매트릭스 스위칭 (multi-segment matrix switching) 은 항상 테스트 자극 및 센서의 최적의 적용을 보장합니다. 전체 장치는 우수한 TERADYNE KAYA 테스트 프로그래밍 가능한 테스트 임원에 의해 제어됩니다. 이 소프트웨어 제품군은 사용자 친화적이며 직관적인 인터페이스 (interface) 를 제공하며, 강력한 기능을 통해 사용자는 특정 애플리케이션에 대한 테스트 프로그램을 신속하게 만들고 수정할 수 있습니다. TERADYNE J 750 EX는 사용자에게 다양한 DPCO, DIP 및 Vectoring 테스트를 동시에 처리할 수 있는 능력을 제공하여 높은 수준의 처리량과 정확도를 제공합니다. 데이터 마이닝 (mining) 기능이 내장되어 있어 문제의 근본 원인을 신속하게 파악할 수 있으며, 분석 개선을 위한 고수율 데이터를 제공합니다. 전반적으로 J750EX는 최종 테스트 애플리케이션을 위한 고급, 고품질, 고성능 시스템입니다. 또한 ICT, FCT, 고급 테스트 알고리즘, 내장형 데이터 마이닝 기능, 높은 처리량 등 다양한 표준을 지원하므로 모든 테스트/운영 환경에 적합한 솔루션이 될 수 있습니다.