판매용 중고 TERADYNE J750 EX #9206967

TERADYNE J750 EX는 오늘날의 복잡한 SoC (System-on-chip) 제품의 극단적 인 테스트 요구 사항을 충족하도록 설계된 고급 Final Test Network 장비입니다. 모듈식 플랫폼과 유연한 아키텍처를 통해, 사용 가능한 모든 Final Test Network 장치의 최고 수준의 처리량과 생산성을 제공합니다. PC에서 네트워크 (Network Attachment) 에 이르는 다양한 제품을 테스트하는 데 사용할 수 있으며, 다양한 기능을 제공하여 최상의 품질의 테스트 결과를 얻을 수 있습니다. TERADYNE J750EX는 SLM 시스템, 직접 연결 구성 요소, 테스트 스캐닝 프로브, AC/DC 전원 공급 장치 등 기계의 구성 요소를 수용하는 다용도 모듈식 플랫폼을 갖추고 있습니다. 이러한 구성 요소는 구성이 용이한 단일 제어 캐비닛에 내장되어 있으며, 전체 높이가 낮습니다. 이렇게 하면 다양한 테스트 응용 프로그램에서 공구를 사용할 수 있습니다. 또한 자산은 FlexFrame 아키텍처를 사용합니다. 따라서 처리량과 확장성이 향상됩니다. 이 모델은 장비당 최대 1400 핀을 지원하며, 최대 16K 장치와 16K 장애 사이트를 지원합니다. 또한 분산 제어 시스템 (Distributed Control System) 과 통합 연결 관리 (Integrated Connection Management) 기능을 통해 필요한 유선 부품 수를 줄일 수 있습니다. J 750 EX는 높은 정확성과 신뢰성을 제공하도록 설계되었습니다. 차별, 프로브 사이클링, 프로세스 콜아웃, Look-ahead 테스트와 같은 고급 테스트 제어 기능을 사용합니다. 따라서 장치 (unit) 는 적용 가능한 모든 신호 및 기능에 대해 테스트하는 한편, 정확하고 정확한 결과를 제공합니다. 또한 Boundary Scan, Functional Test, LEB (Logic Element Boundaries), Structural Test, Scan Insertion 등 다양한 테스트 패러다임을 지원합니다. 이 광범위한 테스트 패러다임 (test paradigm) 은 공구가 다양한 제품 유형을 정확하게 테스트할 수 있도록 합니다. J750 EX에는 J750EX 프로그래밍 언어도 있습니다. 이 언어는 테스트 프로그램 디버깅 및 유지 관리를 단순화하기 위해 고안되었습니다. 또한 사용자 지정 테스트 프로그램을 만드는 데에도 사용됩니다. 이를 통해 테스트 개발이 훨씬 쉽고 효율적입니다. 또한 자산에는 포괄적 인 소프트웨어 패키지가 포함되어 있습니다. 여기에는 패턴 제작, 벡터 로딩, 오류 예측, 시각화 및 기타 기능을위한 도구가 포함됩니다. 이를 통해 고급 SoC 제품에 필요할 수 있는 복잡한 테스트 (high-complexity test) 를 생성할 수 있습니다. 마지막으로 TERADYNE J 750 EX는 광범위한 기계 및 환경 테스트 액세서리에 의해 지원됩니다. 여기에는 온도 및 습도 챔버, 자동 웨이퍼 매핑, 진동 및 충격 테스트 장비 등 모든 것이 포함됩니다. 이렇게 하면 모델이 다양하며 모든 응용 프로그램에 사용할 수 있습니다.