판매용 중고 TERADYNE J750 EX #9180721

TERADYNE J750 EX 는 다양한 업종의 기능 테스트 및 검사 애플리케이션을 위한 고성능, 사용자 친화적, 비용 효율적인 솔루션입니다. 이 장비에는 자동 테스트 프로그램 설계, 자동 컴포넌트 인식, 동적 결함 식별 등의 통합 기능이 포함됩니다. 자동 테스트 프로그램 설계 (Automated Test Program Design) 를 통해 사용자는 보드의 모든 전기 연결 (Electrical Connection) 을 고려하지 않고도 상세한 테스트 계획을 신속하게 생성할 수 있으며, 시간 및 자원을 절약할 수 있습니다. 시스템의 자동 구성요소 인식 (Automatic Component Recognition) 기능을 통해 장치를 쉽게 검색하고 확인할 수 있으므로 번거로운 수동 설정 프로세스를 수행할 수 없습니다. TERADYNE J750EX의 동적 결함 식별 (Dynamic Defect Identification) 은 구성 요소 수준의 결함을 그 어느 때보다 빠르게 찾아 파악하여 수리 시간과 비용을 줄여줍니다. J 750 EX 는 비용 효율적인 운영 테스트를 제공하기 위한 첨단 기술을 제공하여, 전반적인 테스트 시간을 단축할 수 있습니다. 처리량이 높은 이 장치는 시간당 최대 2000 개의 장치를 테스트할 수 있으며, 여러 테스트 기술을 지원합니다. 또한, 이 기계는 ISP (In-Tool Programming) 아키텍처를 사용하여 테스트 사이트 특정 코드가 필요하지 않으므로 소유 비용을 낮출 수 있습니다. J750EX는 8개의 플러그인 테스트 사이트 (유연한 I/O 버스를 통해 상호 연결) 로 설계되었습니다. 빠른 탐색을 위한 단순하고 직관적인 사용자 인터페이스가 특징입니다. 모듈식 설계를 통해 필요한 경우 4개 사이트에서 8개 사이트로 쉽게 확장할 수 있습니다. 높은 핀 카운트 어댑터 (Pin Count Adaptor) 옵션을 통해, 이 자산은 여러 커넥터와 IC 를 수용할 수 있으며, 고객의 요구 사항을 충족할 수 있는 추가적인 설계 유연성을 제공합니다. 또한, J750 EX에는 자체 진단 기능, 진단 정렬 및 모니터링 기능이 내장되어 있으며, 모델 수준 측정을 돕고 테스트 시간을 예측할 수 있도록 합니다. 이 장비에는 또한 IDP (International Data Packaging) 관리자가 포함되어 있으며, 이 관리자는 테스트를 설계 파일에 연결하고 테스트를 제품군으로 구성합니다. 이렇게 하면 시스템 수준 진단이 테스트 단계에서 바로 수행됩니다. TERADYNE J 750 EX 는 효율적이고 사용자 친화적인 솔루션을 원하는 기업에 적합한 최종 테스트 장치입니다. 첨단 기능과 기능을 갖춘 이 시스템은 안정적이고 정확한 테스트 결과를 보장하는 한편, 경제적인 자동 테스트 (automated test) 방식을 제공합니다.