판매용 중고 TERADYNE J750 EX #9178166

TERADYNE J750 EX는 고속, 복잡한 ASIC (application-specific integrated circuit) 의 테스트 및 디버깅 요구 사항을 충족하도록 설계된 최종 테스트 장비입니다. 특허받은 벡터 기반 패턴 계산 엔진과 초고속 테스트 속도를 갖춘 TERADYNE J750EX는 차세대 디지털 IC 테스트 및 디버깅에 적합합니다. J 750 EX 는 모듈식으로 구성이 가능하고 자동화된 테스트 셀 (Test Cell) 환경에서 작동하며, 모든 네트워크 연결 구성요소 및 시스템은 직관적이고 사용자 친화적인 소프트웨어 인터페이스를 통해 관리됩니다. 기본 테스트 시스템 코어는 메인프레임 유닛, 컨트롤 보드, 구성 가능한 Probe 카드, 논리 모듈 등으로 구성됩니다. 메인프레임 머신은 9 개의 테스트 스테이션과 2 개의 이중 포트 네트워크 인터페이스로 구성되어 있어 추가 디바이스에 대한 확장 및 연결을 허용합니다. 메인프레임은 또한 4 개의 Drive by Connection 을 지원하므로 툴의 다른 구성요소를 손쉽게 연결하고 구성할 수 있습니다. 제어 보드는 J750EX의 고급 기능의 핵심입니다. 여기에는 강력한 프로그래밍 기능 및 테스트 시퀀싱 기능이 포함됩니다. 또한 제어 보드에는 안정성이 뛰어난 결함 적용 범위 (fault coverage) 를 측정하는 내장 벡터 기반 패턴 계산 엔진이 포함되어 있습니다. 구성 가능한 Probe 카드 및 논리 모듈은 테스트 및 디버그 시스템을 TERADYNE J 750 EX에 연결하는 데 필요한 하드웨어를 제공합니다. J750 EX 의 시뮬레이션 (Simulation) 기능은 고급 기능으로, 테스트 시간을 줄이고 장애 지점의 신속한 해결을 위해 회로의 실시간 시뮬레이션을 만들 수 있습니다. TERADYNE J750 EX는 코드 적용 범위 분석에 대한 정보를 수집하기 위해 테스트를 실행할 수도 있습니다. 이 자산은 또한 혼합 신호 디버깅 기능을 지원하며, 디지털 및 아날로그 구성 요소에 대한 통찰력을 제공합니다. 또한 TERADYNE J750EX 는 동시 멀티 사이트 테스트 기능을 제공하여 여러 사이트에서 동시에 테스트를 실행할 수 있습니다. 간단히 말해서, J 750 EX 는 시중에서 가장 고급적이고 복잡한 ASIC 를 테스트, 디버그하도록 설계된 강력하고 포괄적인 최종 테스트 모델입니다. 벡터 기반 패턴 계산 엔진, 실시간 시뮬레이션, 혼합 신호 디버깅, 동시 멀티 사이트 테스트 기능을 갖춘 J750EX는 고속, 매우 복잡한 ASIC 테스트 요구 사항에 적합한 솔루션입니다.