판매용 중고 TERADYNE J750 EX-HD #9352274

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ID: 9352274
빈티지: 2017
Tester 1024-Channels (8) HSD800 Channel cards P/N: 615-988-01 (8) DSMTO P/N: 614-889-01 (1) HDCTO P/N: 616-451-01 (1) CALCUB+ P/N: 621-917-02 (4) HDDPS24 P/N: 517-470-04 2017 vintage.
TERADYNE J750 EX-HD는 보드 수준 제품을 테스트하는 최종 테스트 장비입니다. 신뢰할 수 있는 아키텍처 설계와 혁신적인 테스트 하드웨어가 결합되어 있습니다. TERADYNE J750EX-HD는 다양한 고급 기술을 사용하여 최적의 제품 테스트 범위를 달성하고 PCB (Printed Circuit Board) 1 인치당 최대 20 0.5mm 피치 테스트 포인트를 제공하고 테스트 기능을 최소화합니다. J 750 EX HD를 사용하면 디지털, 아날로그, 기능 및 혼합 신호 보드에 대한 모든 유형의 테스트를 실행할 수 있습니다. 전용 디지털, 아날로그 및 기능 보드 테스트 모드를 포함한 일련의 프로브 카드를 사용합니다. TERADYNE J 750 EX HD는 보다 포괄적인 제품 테스트를 제공하는 다양한 기능으로 구성됩니다. 초당 130 개의 장치를 처리 할 수 있으며, 인사이클 (in-cycle) 시퀀싱 작동 속도는 최대 50 기가헤르츠입니다. 또한 총 8 기가바이트 (GB) 의 핀 메모리 용량을 제공하여 다양한 보드에 대한 테스트 요구 사항을 손쉽게 충족할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 듀얼 핀아웃 (dual pinout) 을 지원하므로 핀아웃이 다른 두 보드를 동시에 테스트할 수 있습니다. J750EX-HD는 또한 장치당 최대 32 개의 testhead를 갖추고 있으며, 다양한 제품 단위에서 동시에 테스트할 수 있습니다. 각 testhead는 자동으로 개별적으로 테스트되며, 성능을 검사하고 필요한 매개변수를 설정합니다. 또한 인라인 (In-Line) 및 오프라인 (Off-Line) 테스트를 통해 모든 시퀀스에서 여러 테스트를 실행하고 여러 운영 유닛을 동시에 테스트할 수 있습니다. 또한 J750 EX-HD는 매우 사용자 친화적 인 시스템입니다. 직관적인 PC 운영 툴, 인체 공학적 메인프레임 설계를 통해 프로그래밍, 안전하게 운영, 유지 보수할 수 있습니다. 이 자산에는 인라인 결함 분석 스테이션 (In-Line Defect Analysis Station) 도 있으며, 테스트 중인 보드의 성능 및 신뢰성에 대한 실시간 피드백을 제공합니다. 이 모델에는 또한 내장형 ATE (Automated Test Equipment) 소프트웨어가 내장되어 있으며, 이를 통해 사용자는 애플리케이션 및 테스트 요구에 가장 알맞게 장비를 사용자 정의할 수 있습니다. 전반적으로 TERADYNE J750 EX-HD는 고성능, 신뢰성, 비용 효율적인 시스템으로 모든 테스트 요구를 충족하는 데 적합합니다. 보드급 (board level) 제품을 테스트하는 데 이상적인 도구이며, 다양한 기능과 기능을 통해 모든 운영 라인에 이상적인 솔루션을 선택할 수 있습니다 (영문).
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