판매용 중고 TERADYNE J750 EX-HD #9223829

TERADYNE J750 EX-HD는 고밀도 생산 환경의 과제를 해결하기 위해 설계된 종합적인 최종 테스트 장비입니다. 마이크로컨트롤러, 메모리 디바이스, 논리 디바이스, 데이터 변환기, RF (Radio Frequency) 디바이스, 개별 구성 요소 등 다양한 활성 디바이스 유형에 적합합니다. 이 시스템은 최대 9 ns의 핀 속도 (pin speed) 로 높은 핀 수 및 노드로 장치를 테스트할 수 있습니다. 또한 TERADYNE J750EX-HD는 2.2GHz 대역폭으로 설계되어 고속 테스트를 수행할 수 있습니다. J 750 EX HD는 PSM (핀 스테이션 모듈) 과 DSP (디지털 신호 프로세서) 와 함께 제공됩니다. PSM은 장치 핀에 대한 테스트 서비스를 제공하며, 고급 전압 및 CDM 감지 및 테스트를 제공합니다. DSP는 빠른 응답 시간 (Reaction Time Test) 을 제공하고 테스트 결과를 생성, 분석, 저장할 수 있는 기능을 제공합니다. TERADYNE J 750 EX HD (EX HD) 에는 확장 가능한 고밀도 테스트 헤드 (핀 어레이) 가 장착되어 있어 모든 활성 장치에 대해 빠르고 쉽게 테스트를 만들 수 있습니다. 이 장치에는 최대 8 개의 동시 테스트를 허용하는 ISD 서비스가 포함되어 있으며, 추가 병렬 테스트 기능으로 업그레이드 할 수 있습니다. 생산 라인의 경우, J750 EX-HD에는 인체 공학적으로 설계된 테스트 핸들러 인터페이스도 장착되어 있습니다. 이를 통해 단일 사용자 인터페이스에서 테스트 헤드, 디바이스 처리, 운영 등을 손쉽게 액세스할 수 있습니다. 또한, 이 기계는 카메라 기능 (옵션) 을 지원하므로 사용자가 진행 패턴을 확인하고 테스트 중인 장치에서 시각적 검사를 수행할 수 있습니다. J750EX-HD에는 통합 테스트 임원 (ITE) 환경도 포함되어 있습니다. 이 환경에서는 매크로 수준에서 테스트를 설계, 실행, 제어, 분석할 수 있습니다. 이 툴에는 로직 분석기 (Logic Analyzer), 장애 로케이터 (Fault Locator) 와 같은 유효성 검증 도구도 포함되어 있어 신속한 디버깅 및 문제 해결이 가능합니다. TERADYNE J750 EX-HD (EX-HD) 는 또한 확장된 서비스 기능을 제공하여 테스트 시스템을 더욱 쉽게 유지 관리하고 모니터링할 수 있습니다. 마지막으로 TERADYNE J750EX-HD는 실시간 데이터 수집 및 분석을 제공합니다. 이를 통해 사용자는 장치 단위로 성능 및 품질 추세를 모니터링할 수 있습니다. 또한, 이 자산에는 보안, 암호화된 LAN 연결, 모든 관리자 계정에 대한 암호 보호 등 다양한 모델 보안 기능이 제공됩니다. 또한 J 750 EX HD는 고밀도 생산 어플리케이션을 위해 설계된 고급 최종 테스트 장비입니다. 이 제품은 높은 핀 수 (count), 처리량 (throughput), 확장된 서비스 기능 및 향상된 보안 수단으로 장치를 테스트할 수 있습니다. TERADYNE J 750 EX HD는 인체 공학적 (ergonomic) 테스트 핸들러 인터페이스와 다양한 분석 도구를 통해 운영 라인 테스트를 위한 탁월한 선택입니다.