판매용 중고 TERADYNE J750 EX-HD #293757873

TERADYNE J750 EX-HD는 고급 반도체 장치의 생산 테스트를 위해 설계된 Final Test 장비입니다. 이 시스템은 결정적 테스트 솔루션 (Deterministic Test Solution) 과 비결정론적 테스트 (Non-Deterministic Test) 기능을 결합하여 오늘날의 최첨단 칩에 가장 높은 품질과 가장 안정적인 결과를 보장합니다. 멀티스레드 (Multi-Threaded) 아키텍처를 통해 고객의 처리량과 유연성을 극대화할 수 있습니다. 이 장치는 모듈식 (modular) 구성으로, 특정 애플리케이션의 요구에 맞게 시스템을 조정할 수 있습니다. 이 제품은 1.6GHz Pentium 4 프로세서와 최대 6GB DDR2 도구 메모리를 장착하여 대형 테스트 벡터와 여러 벡터 세트를 동시에 처리할 수 있는 강력한 성능을 제공합니다. 최대 테스트 정확성과 반복 가능성을 보장하기 위해 TERADYNE J750EX-HD에는 초고속 PCI Express 기반 데이터 획득 및 제어 자산도 있습니다. 이 모델은 또한 고급 테스트 스케줄링 및 프로그래밍 도구, 실시간 데이터 분석, 파형 캡처, 외부 자극, 트리거, 출력 기능 등 다양한 고급 테스트/분석 기능을 제공합니다. 또한 IEEE Standard Test Library 및 다양한 소위 "Golden Library" 제품을 포함하여 타사 테스트 라이브러리로 장비를 더욱 강화할 수 있습니다. 또한 BIST, DC, AC 테스트와 같은 널리 사용되는 많은 테스트 패키지 및 원칙에 대한 기본 지원을 제공합니다. 테스트 속도 측면에서 J 750 EX HD는 동일한 시리즈의 이전 시스템에 비해 최대 4 배, 최대 10 배 높은 처리량을 제공합니다. 또한, 이 장치는 최적화된 신호 라우팅, 향상된 하네싱 및 케이블 연결 솔루션 덕분에 신호 무결성 (signal integrity) 이 향상되었습니다. 뿐 만 아니라, 이 기계 는 "테스트 '를 쉽게 설치 하고 사용자 정의 할 수 있도록 설계 된 직관적 인" 그래픽' 사용자 인터페이스 를 갖추고 있다. 이 사용자 인터페이스는 브라우저 기반 인터페이스로, 테스트 프로그램의 모니터링, 디버깅, 제어를 위한 원격 액세스를 지원합니다. 또한 사용자 인터페이스의 각 인스턴스는 자체 암호화 키 (encryption key) 와 연결 보안 프로토콜 (connection security protocol) 을 갖추고 있어 모든 위치에서 작동할 수 있도록 안전하고 안전합니다. 마지막으로, 이 도구는 동적 DSP (Digital Signal Processing) 테스트, 고속 메모리 테스트, 멀티 사이트 결함 격리 테스트 등 다양한 어려운 응용 프로그램에 적합합니다. 높은 신뢰성 구성 요소, 고급 전압 및 전원 검사 기능을 통해 가장 까다로운 고전압 및 RF 테스트 어플리케이션에 적합합니다. 이러한 모든 기능을 통해 J750 EX-HD 최종 테스트 (EX-HD Final Test) 자산은 최첨단 반도체 테스트 어플리케이션을 위한 매우 강력하고, 다재다능하며, 신뢰할 수 있는 도구입니다.