판매용 중고 TERADYNE J750 E #9313762

TERADYNE J750 E (TERADYNE J750 E) 는 전기적 성능 특성을 위해 여러 제품을 동시에 테스트하도록 설계된 강력한 자동화된 최종 테스트 장비입니다. TERADYNE J750E 의 모듈식 아키텍처 (modular architecture) 는 고객의 변화하는 요구를 충족할 수 있는 손쉬운 확장성과 유연성을 제공합니다. J 750 E 의 강력한 성능은 높은 처리량, 확장성, 고객 요구 사항에 따라 맞춤형 보드 (Custom Board) 및 소프트웨어 구성 기능을 결합한 것입니다. J750E는 MDCP (Multi-DUT Coprocessor) 카드, FPS (Fully Programmable Switching System) 보드, HSMS (High Speed Mixed Signal Tester) 카드 및 I/O 버스 테스터 카드로 구성된 4 개의 독립적 인 테스트 시스템을 갖추고 있습니다. 각 테스트 유닛은 한 번에 최대 6 개의 제품을 테스트 할 수 있습니다. 또한 ICT (in-circuit test), FT (functional test), ASIC 테스트 및 메모리 테스트를 포함한 여러 테스트 흐름과 호환됩니다. 전자제품 설계· 테스트에 활용되는 첨단 소프트웨어· 도구를 탑재했다는 점에서 J750 E의 위력이 강화됐다. 이 기능을 사용하면 매개변수 (parameter) 와 실시간 조정 (real-time adjustment) 을 완전히 제어할 수 있으며, 결함의 근본 원인을 빠르고 쉽게 파악하고 해결할 수 있습니다. TERADYNE J 750 E는 또한 메모리 및 타이밍 매개 변수를위한 다양한 오프라인 프로그래밍 기능 (경계 스캔 및 추적) 을 제공합니다. 전기 성능 측면에서 TERADYNE J750 E는 저항, 커패시턴스, 인덕턴스, 전류 누출, EMI/EMC 면역, 열 보호, 저수준 전류 등 광범위한 테스트를 수행 할 수 있습니다. TERADYNE J750E는 또한 통합 커패시터 테스트 (CACITOR Test) 를 통해 여러 커패시터가 있는 보드를 테스트하여 누출 및 단열 저항을 빠르고 쉽게 수행할 수 있습니다. 탁월한 성능과 유연성을 제공함으로써, J 750 E 는 가장 까다로운 테스트 요건을 충족할 수 있습니다. J750E는 소비자, 자동차, 통신, 산업 및 의료 산업의 다양한 응용 분야에 이상적인 플랫폼입니다. 확장성과 유연성을 통해 고객이 지정한 '전력 성능 (electrical performance)' 요구 사항을 충족할 수 있는 다양한 방식으로 구축할 수 있습니다. 요약하자면, J750 E 는 높은 처리량, 고급 기능, 유연성 등으로 인해 이상적인 최종 테스트 툴로서, 고급 기술/제품에 대한 투자를 보호하기 위한 완벽한 솔루션입니다.