판매용 중고 TERADYNE J750 E #9267899

테라 딘 J750 E (TERADYNE J750 E) 는 반도체 웨이퍼에서 가전 제품 용 패키지 부품에 이르기까지 다양한 응용 분야를 위해 설계된 특수 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 고급 5축 모션 플랫폼 (Advanced 5-axis motion platform) 을 통해 다양한 테스트 각도에서 작고 큰 패키지에 대한 빠른 속도, 높은 정확도를 테스트합니다. 이 장치는 정밀 테스트 성능, 높은 테스트 처리량, 디지털 (digital), 아날로그 (analog), RF, 옵토 전자 부품 등 다양한 구성 요소 유형에 대한 신뢰할 수 있고 반복 가능한 측정값을 제공하도록 설계되었습니다. TERADYNE J750E는 고급 3D CAD (Computer Aided Design) 기능을 사용하여 다양한 크기와 모양의 구성 요소에 적응하는 맞춤형 테스트 다이어그램을 생성합니다. 수직 (Vertical) 및 수평 (Horizontal) 테스트 베이를 모두 갖추고 있어 보다 높은 생산률을 위해 효율적인 테스트와 향상된 처리량을 제공합니다. 이 기계는 또한 정확도 향상을위한 고해상도 CCD 카메라 (High Resolution CCD Camera) 와 매우 정확한 프로브 (Probe) 모터를 갖추고 있습니다. J 750 E는 또한 최대한의 유연성과 높은 정확성 테스트 측정을 위해 Adaptive Test 알고리즘 기술을 갖춘 강력한 DSP 기반 제어 도구를 갖추고 있습니다. 이 테스트 자산에는 안전한 원격 액세스/모니터링을 위한 다양한 접속 옵션이 제공됩니다. 이 모델은 핀 스테스터 (pin-state testers), 네트워크 분석기 (network analyzer), 논리 분석기 (logic analyzer) 등 다양한 테스트 세트와 상호 작용할 수 있습니다. TERADYNE J 750 E 는 또한 고급 진단 및 추적 기능을 제공하여 자동 진단 보고, 추적 가능성 및 진단 추적을 위한 통합 데이터 기록을 지원합니다. 이 장비에는 프로그래밍 및 테스트 프로토콜의 유연성이 높은 최신 언어 버전 (dynamic programming package) 도 포함되어 있습니다. 따라서 새로운 장치와 기능을 완벽하게 통합하여 효율성을 높일 수 있습니다. 이 시스템은 항공 우주, 자동차, 의료, 산업 제조와 같은 다양한 고가용성 산업에서 사용하도록 설계되었습니다. J750E는 복잡하고 안정적인 장치에 대해 일관된 테스트 결과를 제공합니다. 견고한 설계 및 통합 기능을 통해 최종 생산 테스트 (production testing) 및 품질 보장 (quality assurance) 을 위한 이상적인 선택이 가능합니다.