판매용 중고 TERADYNE J750 E #9256206

테라 딘 J750 E (TERADYNE J750 E) 는 광범위한 전자 어셈블리에 대해 효율적이고 안정적인 테스트 솔루션을 제공하도록 설계된 강력하고 다양한 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템의 통합 소프트웨어 아키텍처 (Integrated Software Architecture) 는 신규/레거시 테스트 하드웨어/소프트웨어와의 호환성을 보장하여 성능을 극대화하고 비용을 절감합니다. 이 장치는 또한 매우 유연하게 설계되었으며, 이는 다양한 운영 환경에서 사용하기에 이상적입니다 (영문). TERADYNE J750E는 최신 디지털 멀티 채널 데이터 획득, 고속 신호 처리, 디지털 신호 처리 기술 (Digital Signal Processing Technologies) 을 갖추고 있으며, 운영자의 개입을 최소화하면서 안정적인 테스트 결과를 제공합니다. 또한, 이 기계는 장애 감지 (fault detection) 및 수정 (correction) 기능과 함께 테스트 결과의 통계 분석 및 그래픽 디스플레이를 제공하도록 설계되었습니다. J 750 E 툴은 자산 설계를 테스트하는 모듈식 (modular) 방식으로, 각 고객이 특정 요구 사항에 따라 테스트 구성을 설계할 수 있도록 합니다. 다양한 입력 및 출력 I/O 카드를 결합하여 여러 채널, 다양한 전압 및 타이머 설정으로 테스트 시스템을 만들 수 있습니다. 이러한 구성 유연성을 통해 J750E 는 다양한 업종의 애플리케이션 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 또한, 이 모델에는 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 가 포함되어 있어 쉽게 테스트 설치 및 구성할 수 있습니다. 테스트 장비는 웨이퍼 검사 (wafer probing), 온도 검사 (temperature scanning), 수분 검사 (moisture scanning), 진동 테스트 (vibration testing) 등의 추가 옵션을 위해 다양한 구성 요소로 구성 될 수 있습니다. 또한 외부 데이터 수집 (external data collection), 데이터 로깅 (data logging) 및 보고서 생성 (report generation) 을 완벽하게 지원하고 테스트 결과를 다른 프로그램으로 익스포트하여 분석할 수 있습니다. 또한, J750 E는 고급 열 관리 장치 (Advanced Thermal Management Unit) 를 제공하여 기계의 모든 부품을 최적의 작동 온도로 유지합니다. 전반적으로, TERADYNE J 750 E 는 신뢰할 수 있고, 기능이 풍부한 최종 테스트 툴로서, 사용자에게 최신 테스트 및 데이터 로깅 기술을 제공합니다. 강력한 기능과 모듈식 설계를 갖춘 TERADYNE J750 E 는 운영 환경을 위한 포괄적이고 경제적인 테스트 솔루션을 제공합니다.