판매용 중고 TERADYNE IP 750 EX #293625421

TERADYNE IP 750 EX는 디지털 장치 엔지니어링 및 제작에 사용하도록 설계된, 고급적이고 정교한 통합 테스트 장비입니다. 이 최종 테스트 시스템 (final test system) 은 안정적인 출력과 빠른 테스트 시간을 제공하기 위해 높은 성능과 정밀도가 필요한 어플리케이션에 적합합니다. TERADYNE IP750EX는 Quad-SPI, DAP, 코어 아키텍처 테스트 및 테스트 패턴 관리와 같은 디지털 회로 테스트를위한 고급 기능을 제공합니다. 이 장치는 메모리, PLD, ASIC, SoC, 내장 디자인, 모듈 및 여러 채널 또는 기능을 포함하는 장치에 대한 정확한 테스트를 제공합니다. 이 기계의 디지털 패턴 생성기 장치는 최대 250MHz의 8 개 채널과 최대 200MHz의 단일 엔드 패턴 생성기를 제공합니다. 또한 16 비트 밴드 너비, 65 MHz 이상, 정확한 코너 케이스 검출을 제공하는 통합 고정밀 혼합 신호 오실로스코프를 갖추고 있습니다. IP 750EX에는 LPDDR, LPDDR4, AMBA 등 다양한 기술의 버스 기반 데이터 인터페이스를 통해 테스트 툴이 복잡한 메모리와 메모리에 액세스할 수 있도록 하는 고급 DAP 기능이 있습니다. 따라서 속도 (speed) 와 매개변수 (parameter) 를 최고 속도로 측정할 수 있고 사양 이외의 장치에 액세스할 수 있습니다. 또한, 32 개의 신호 및 데이터 라인을 지원하여 최대 20Gbps의 속도 (성능 테스트) 를 허용합니다. IP750EX 는 또한 다양한 소프트웨어 기능 (예: 광범위한 오픈 개발 라이브러리) 을 제공하여 맞춤형 테스트 시퀀스 (custom test sequence) 와 테스트 프로그램 (test program) 의 개발을 촉진하고, 여러 디지털 장치를 병렬로 테스트할 수 있는 시간적 스택 모드 (temporal stack mode) 를 제공합니다. 또한 내장형 전원 공급 장치 및 내장형 디지털 신호 처리 기능을 통해 고속, 저비용, 고비용 (High Repeatability) 테스트에 적합한 자산을 확보할 수 있습니다. 전반적으로 IP 750 EX는 많은 애플리케이션에 적합한 강력한 최종 테스트 모델입니다. 우수한 성능, 빠른 테스트 시간 (fast test time), 신뢰할 수 있는 출력으로, 다양한 고급 기능과 소프트웨어를 제공하여 정확한 테스트 결과를 얻을 수 있습니다. 이를 통해 디지털 장치 엔지니어링 및 생산에 유용한 솔루션이 됩니다.