판매용 중고 TERADYNE iFlex #9229667

TERADYNE iFlex
ID: 9229667
빈티지: 2007
Tester Includes: (5) HSD200 200 MHz 16 MLVM DC-30 DC-75 Computer: XW8400 2007 vintage.
TERADYNE iFlex (TERADYNE iFlex) 는 다양한 애플리케이션 및 시장에서 복잡한 구성요소를 테스트 및 검증하기 위해 설계된 첨단 Final Test 장비입니다. 프로세서, 메모리, 전원 공급 장치, 고속 광전자 장치 등의 반도체 장치 테스트 및 검증에 사용됩니다. TERADYNE I-FLEX 시스템은 최고 1기가헤르츠 (Gigahertz) 의 속도로 테스트할 수 있는 최신 고속 테스트 및 검증 기술을 사용합니다. 6 개의 고속 계측 채널이 장착되어 있어 광범위한 구성 요소를 정확하게 테스트, 검증할 수 있습니다. 이 장치 의 주된 장점 은, 능력 과 "플랫폼 '이 매우 융통성 이 있다는 것 이다. 따라서 다양한 공급업체의 다양한 구성요소를 테스트하고 검증하는 데 이상적입니다. 이 기계는 광범위한 측정, 특성, 검증 소프트웨어 제품군을 제공하므로 구성 요소 특성 (component characterization), 패라메트릭 테스트 (parametric testing) 와 같은 응용 프로그램에 사용하기에 매우 다양하고 이상적입니다. 또한 TERADYNE Interconnect Test Tool (ITS) 및 LabVIEW 소프트웨어를 사용하여 그래픽 제어와 같은 다른 테스트 시스템과 쉽게 통합되도록 설계되었습니다. 이 소프트웨어를 사용하면 구성 요소 결함을 신속하게 파악하고 파악할 수 있으며, 이를 통해 향상된 시정 (corrective) 조치를 개발 및 구현할 수 있습니다. 또한 제품을 신속하게 측정, 특성화하여 고객 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 마지막으로, iFlex 자산은 효율성 및 속도 향상을 위해 자동화된 운영 기능을 갖추고 있습니다. 이 기능을 통해 사용자는 데이터를 실시간으로 신속하게 액세스할 수 있으며, 이를 통해 정확하고 안정적인 테스트 결과를 신속하게 생성할 수 있습니다. 또한, 이 모델은 정교한 테스트 호출 장비 (Test Calling Equipment) 를 갖추고 있어 다양한 테스트를 체계적으로 호출하는 프로세스를 단순화합니다. 전반적으로 I-FLEX 는 복잡한 구성요소를 테스트하고 검증할 수 있도록 설계된, 다양성이 뛰어난 고급 최종 테스트 시스템입니다. 유연한 기능과 고속 테스트 기술로 구성 요소 특성 (component characterization), 패라메트릭 테스트 (parametric testing) 와 같은 애플리케이션에 적합합니다. 또한 자동 (automated) 작업 기능과 함께 광범위한 측정, 특성, 검증 소프트웨어가 장착되어 있어 테스트 결과의 속도와 정확성이 크게 향상됩니다.
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